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中茂 Chroma 光學(xué)元件測(cè)試解決方案
2015-08-12
中茂 Chroma 光學(xué)元件測(cè)試解決方案含有多通道且高精準(zhǔn)度的激光二極管燒機(jī)測(cè)試系統(tǒng)，其中獨(dú)立的SMU電流-電壓源與溫度控制可以符合發(fā)光二極管、鐳射二極管、光電偵測(cè)器與其它半導(dǎo)體使用。中茂 Chroma 光學(xué)元件測(cè)試解決方案還含有激光半導(dǎo)體特性測(cè)試機(jī)、封裝外觀檢測(cè)系統(tǒng)以及晶圓檢測(cè)系統(tǒng)，以下是長(zhǎng)沙艾克賽普儀器設(shè)備有限公司為您介紹中茂 Chroma PXI 量測(cè)解決方案的系列產(chǎn)品,如果您有任何問(wèn)題或者需要相關(guān)資料，請(qǐng)隨時(shí)聯(lián)系：0731-84284278轉(zhuǎn)801，郵箱：shawn.xiao@hncsw.net。
邊射型激光半導(dǎo)體
- Model 58601 燒機(jī)測(cè)試系統(tǒng)
- Laser Diode Burn-In Test System
- 適用于光電激光半導(dǎo)體 CoC/CoS/Edge Emission 等種類雷射燒機(jī)測(cè)試
- Model 58620 激光半導(dǎo)體特性測(cè)試機(jī)
- Laser Diode Characterization System
自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)
- Model 7925 TO-CAN 封裝外觀檢測(cè)系
- Automatic inspection system for TO-CAN package.
- It can inspect lens scratch, crack, particle and metal cap defect of TO-CAN package
- Auto focus function can overcome height variation from tray or package
- Defect criteria editor for versatile pass/fail criteria setting
- Model 7935 晶圓檢測(cè)系統(tǒng)
- 應(yīng)用于8吋以下晶粒外觀檢查。
- 最大可檢測(cè)8”晶圓 (檢測(cè)區(qū)域達(dá)10“范圍 )
- 適合LED, 雷射二極體及影像感測(cè)器等產(chǎn)業(yè)
- 影像辨識(shí)成功率高達(dá)98%
- 可結(jié)合上游測(cè)試機(jī)晶粒資料，合并后上傳至下一道制程設(shè)備
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