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PCB NDT-RAM 無損探傷系統(tǒng)
2024-10-11
一、NDT-RAM介紹
PCB NDT-RAM 無損探傷系統(tǒng)是無損探傷技術(shù)的一種，全稱為Non Destructive Testing-Resonant Acoustic Method，中文稱為無損探測-諧振聲學(xué)法。
PCB NDT-RAM 無損探傷系統(tǒng)是一種諧振檢查（RI）方法。該方法在不破壞結(jié)構(gòu)的前提下，提供了針對結(jié)構(gòu)件內(nèi)部及外部缺陷的無損檢測方法，能夠探測諸如零件的外形尺寸、重量和密度發(fā)生變化、裂紋、孔隙、夾雜、褶皺等多種異常和瑕疵，也可以用來檢測是否遺漏熱處理或機加工等工序。
二、NDT-RAM的優(yōu)點
PCB NDT-RAM 無損探傷系統(tǒng)相比于超聲波、磁粉、電渦流、射線法等無損探傷技術(shù)，NDT-RAM技術(shù)具有以下優(yōu)點：
簡單可靠
持續(xù)性零件質(zhì)量監(jiān)控，實現(xiàn)零件100%檢測；
檢測整個零件；
零件無需清洗、磁化或消磁、染色等預(yù)處理；
檢測快速、客觀；
自動分揀；
可擴展至過程控制；
極大降低檢測成本，提高檢測速度。
NDT-RAM技術(shù)適用的工藝和典型缺陷見下表：
NDT-RAM技術(shù)和其他無損探傷技術(shù)的簡要對比見下表：
可測試的零部件例如：
三、PCB NDT-RAM 無損探傷系統(tǒng)
PCB Piezotronics, Inc 二十多年來一直致力于探索NDT-RAM技術(shù)、研發(fā)NDT-RAM產(chǎn)品，相繼推出了RAM-AUTO、RAM-DROP、RAM-TEST-SEMI、RAM-TEST-FIXTURE、RAM-TEST-MANUL等多種型號的NDT-RAM產(chǎn)品，以滿足不同用戶的需求。
NDT-RAM 產(chǎn)品面世至今，在市場應(yīng)用上贏得了良好的口碑。迄今為止，已有750多套產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于全球的粉末冶金、鍛造、鑄造、焊接、球墨鑄鐵、機械制造等多個行業(yè)。
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