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Tektronix BSA260C誤碼率分析儀
名稱：誤碼率分析儀
品牌：
型號：
簡介：Tektronix BSA260C誤碼率分析儀最大速率:26 Gb/s,高達(dá)26Gb/s 的碼型發(fā)生、誤碼分析和BER 測試能力 Tektronix BSA260C誤碼率分析儀經(jīng)校準(zhǔn)的集成經(jīng)校準(zhǔn)的集成壓力生成技術(shù)，滿足多種標(biāo)準(zhǔn)壓 力接收機(jī)...
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Tektronix BSA260C誤碼率分析儀最大速率:26 Gb/s,高達(dá)26Gb/s 的碼型發(fā)生、誤碼分析和BER 測試能力
Tektronix BSA260C誤碼率分析儀經(jīng)校準(zhǔn)的集成經(jīng)校準(zhǔn)的集成壓力生成技術(shù)，滿足多種標(biāo)準(zhǔn)壓 力接收機(jī)靈敏度和時鐘恢復(fù)抖動容限測試要求
最高100MHz 的正弦抖動(SJ)頻率
隨機(jī)抖動(RJ)
有界不相關(guān)抖動(BUJ)
正弦干擾(SI)
擴(kuò)展頻譜時鐘
PCIe 2.0Rx 測試
8xFC F/2 抖動生成及10GBASE-KR 測試
Tektronix BSA260C誤碼率分析儀加壓力的電眼圖測試包括：
PCI Express
10/40/100 Gb 以太網(wǎng)
SFP+/SFI
XFP/XFI
OIF/CEI
光纖通道
SATA
USB 3.0*
抖動裕量(Margin)測試、抖動容限一致性模板測試
物理層測試套件，支持模板測試、抖動峰值、BER 輪廓和Q因子分析，使用標(biāo)準(zhǔn)或用戶自定義抖動容限模板庫進(jìn)行全方位測試
集成的眼圖和BER 相關(guān)分析
抖動分離及定位（Jitter Map)選件系統(tǒng)豐富的抖動解析 - 支持長碼型(如PRBS-31)抖動三角測量，把基于BER 的抖動分解功能擴(kuò)展到Dual Dirac TJ、DJ 和RJ 限制之外，全面分解抖動子成分
專利的誤碼定位分析技術(shù)(Error Location AnalysisTM )，迅速了解BER性能限制，評估確定性誤碼與隨機(jī)性誤碼，執(zhí)行詳細(xì)的碼型相關(guān)誤碼分析，執(zhí)行誤碼突發(fā)分析或無誤碼間隔分析
| 主要特點 | 優(yōu)點 |
| 碼型生成和誤碼分析，高速BER測量，高達(dá)26 Gb/s | 在一臺儀器中同時提供生成和分析功能，根據(jù)當(dāng)前的第二代和第三代串行標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行接收機(jī)BER一致性測試。 |
| 集成壓力發(fā)生器，進(jìn)行壓力眼圖靈敏度(SRS)和抖動容限一致性測試 | 可以在運(yùn)行過程中改變測試信號的數(shù)據(jù)速率、施加的壓力和數(shù)據(jù)碼型，而且相互獨立；支持各種信號變化，測試芯片組/系統(tǒng)靈敏度。 |
| 集成BER相關(guān)眼圖分析，PCI Express、USB、SATA和其它串行標(biāo)準(zhǔn)測試通過/失敗模板 | 與其它BERT不同，提供了用戶熟悉的測試結(jié)果眼圖，對比特定標(biāo)準(zhǔn)模板，增強(qiáng)調(diào)試體驗。 |
| PRBS信號誤碼定位和BER輪廓分析，速率高達(dá)26 GB/sec | 從BER角度迅速了解信號完整性。誤碼定位功能提供了詳細(xì)的BER碼型靈敏度，加快識別確定性BER誤碼與隨機(jī)性BER誤碼。 |
| 選配抖動地圖，提供了快速抖動分解及DUT輸入準(zhǔn)確壓力校準(zhǔn)功能。 | 三角測量技術(shù)，為確定長碼型PRBS31抖動構(gòu)成提供了快速高效的方法。圖形表示使得抖動分析更全面，使用起來更簡單。 |
| 選配數(shù)字預(yù)加重處理器，在碼型發(fā)生器提供的數(shù)據(jù)上實現(xiàn)用戶控制的預(yù)加重功能。 | 使用PCI Express, 10GBASE-KR, SATA, 40GBASE-KR4, 100GBASE-CAUI等標(biāo)準(zhǔn)信號進(jìn)行測試 |
| 選配時鐘恢復(fù)單元，提高了高達(dá)28.6 Gb/s的時鐘恢復(fù)功能 | 根據(jù)高速串行標(biāo)準(zhǔn)和通信系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)，進(jìn)行一致性測試和準(zhǔn)確的眼圖分析。 |
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