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日本日置 HIOKI IM3570阻抗分析儀
名稱:絕緣電阻測(cè)試儀
品牌:
型號(hào):
簡(jiǎn)介:HIOKI將在7月中旬發(fā)售阻抗分析儀IM357。1臺(tái)IM3570即可進(jìn)行LCR、DCR測(cè)量和掃描測(cè)量。而且和HIOKI以往的LCR測(cè)試儀相比,大幅縮短了測(cè)量時(shí)間,進(jìn)一步提高了測(cè)量精度。 研發(fā)背景 IM3570將用于線圈、電容、壓電元件等電子...
HIOKI將在7月中旬發(fā)售阻抗分析儀IM357。1臺(tái)IM3570即可進(jìn)行LCR、DCR測(cè)量和掃描測(cè)量。而且和HIOKI以往的LCR測(cè)試儀相比,大幅縮短了測(cè)量時(shí)間,進(jìn)一步提高了測(cè)量精度。
研發(fā)背景
IM3570將用于線圈、電容、壓電元件等電子零部件生產(chǎn)線上的檢查,另外還適用于大學(xué)和企業(yè)研究部門的開發(fā)方面。
阻抗分析儀是什么?
阻抗分析儀是以讓測(cè)量頻率和測(cè)量電壓連續(xù)變化的同時(shí),掃描測(cè)量被測(cè)物的特性為主要功能??捎糜谌缇€圈、變壓器、電容、壓電元件的開發(fā)和檢查等用途中。因此,阻抗分析儀對(duì)于復(fù)蘇中的電子零部件市場(chǎng),可以說(shuō)是不可欠缺的測(cè)量?jī)x器。
※阻抗:交流電路中電流不容易流通的程度。單位為Ω。
新產(chǎn)品的特點(diǎn)
1.不同測(cè)量條件下,1臺(tái)進(jìn)行高速測(cè)量
測(cè)量電容等零部件時(shí),有時(shí)在不同條件下(頻率、電平)測(cè)量多種測(cè)量項(xiàng)目,1條生產(chǎn)線中需要多臺(tái)測(cè)量?jī)x器。IM3570可再不同測(cè)量條件下進(jìn)行高速連續(xù)測(cè)量,1臺(tái)儀器即可滿足所有要求。
2.檢查速度提高了2倍(跟以往型號(hào)相比)
和HIOKI的以往型號(hào)(3532-50)相比,大大縮短了測(cè)量時(shí)間。LCR模式下,以往機(jī)型一般需要5ms的測(cè)量時(shí)間,而IM3570的檢查速度提高了2倍。 需要全數(shù)檢查電子零部件的生產(chǎn)線中,IM3570發(fā)揮了作用。
3.測(cè)量的反復(fù)精度提高了1位(※1mΩ,100次測(cè)量時(shí))
功能性高分子電容在推進(jìn)低ESR化的同時(shí),要求正確測(cè)量多個(gè)mΩ。IM3570在測(cè)量低阻抗時(shí)的精度比以往機(jī)型提高了1位,因此為用戶提供穩(wěn)定測(cè)量。
4.廣范圍的測(cè)量頻率
IM3570可在DC和4Hz~5Hz的范圍內(nèi)設(shè)置5位分辨率的頻帶(1kHz以下為0.01Hz分辨率)??稍诮咏舱耦l率的測(cè)量和工作條件的狀態(tài)下進(jìn)行測(cè)量和評(píng)價(jià)。
5.15種測(cè)量參數(shù)
可測(cè)量Z、Y等15種參數(shù),并將需要的參數(shù)讀取至計(jì)算機(jī)中。
6.具備防止誤操作的接觸檢查功能
裝載了4端子測(cè)量、2端子測(cè)量的接觸檢查功能。防止在測(cè)量電極不接觸被測(cè)物的狀態(tài)下測(cè)量的情況,因此可以避免出現(xiàn)未檢查的產(chǎn)品出廠。
7.廣范圍的測(cè)量電壓/電流
外加一般的開路信號(hào)發(fā)生,可在恒壓/恒流模式下進(jìn)行考慮到電壓/電流依存性的測(cè)量??稍O(shè)置廣范圍的、5mV~5V/10μA~50mA(~1MHz)以下的測(cè)量信號(hào)電平。
8.8. 測(cè)試線可延長(zhǎng)至4m
4端子的構(gòu)造可降低測(cè)試線的影響,測(cè)試線長(zhǎng)達(dá)4m仍可保證精度。從而便于自動(dòng)設(shè)備的配線。
IM3570的主要參數(shù)
測(cè)量模式
LCR模式:?jiǎn)我粭l件下測(cè)量
分析儀模式:
根據(jù)測(cè)量頻率、測(cè)量電平進(jìn)行掃描
(測(cè)量點(diǎn):1~801,掃描方法:一般掃描/分區(qū)掃描,顯示:列表顯示/圖表顯示)
連續(xù)測(cè)量模式:
連續(xù)測(cè)量保存的條件(最多32個(gè))
測(cè)量參數(shù)
Z、Y、θ、Rs(ESR)、Rp、Rdc(直流電阻)、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D(tanδ)、Q
測(cè)量量程
100mΩ~100MΩ,12檔量程(所有參數(shù)都根據(jù)Z來(lái)確定)
基本精度
Z:±0.08%rdg. θ:±0.05°
測(cè)量頻率
4Hz~5MHz(10mHz~100Hz步進(jìn))
測(cè)量信號(hào)電平
普通模式:
V模式、CV模式:5mV~5Vrms(1MHz以下),
10mV~1Vrms(1MHz~5MHz),1mVrms步進(jìn)
CC模式:10μA~50mArms(1MHz以下)
10μA~10mArms(1MHz~5MHz),10μArms步進(jìn)
低阻抗高精度模式:
V模式、CV模式:5mV~1Vrms(100kHz以下),
1mVrms步進(jìn)
CC模式:10μA~100mArms(100kHz以下的100mΩ和1Ω量程),
10μArms步進(jìn)
輸出阻抗
普通模式:100Ω
低阻抗高精度模式:10Ω
顯示
彩色TFT5.7英寸,可設(shè)置顯示開或關(guān)
顯示位數(shù)設(shè)置
可設(shè)置3~7位的顯示位數(shù),初始值為6位
測(cè)量時(shí)間
0.5ms(100kHz、FAST、顯示關(guān),代表值)
測(cè)量速度
FAST/MED/SLOW/SLOW2
DC偏壓測(cè)量
普通模式:DC0V~2.50V(10mV步進(jìn))
低阻抗高精度模式:DC0V~1.00V(10mV步進(jìn))
直流電阻測(cè)量
普通模式:測(cè)量信號(hào)電平
DC100mV~2.5V(10mV步進(jìn))
低阻抗高精度模式:測(cè)量信號(hào)電平
DC100mV~1.00V(10mV步進(jìn))
比較器
LCR模式:第1、第3項(xiàng)目的Hi/IN/Lo
分析模式:
區(qū)域判斷(各點(diǎn)的Hi/IN/Lo)、
峰值判斷(極大、極小的頻率和絕對(duì)值的Hi/IN/Lo)
存儲(chǔ)功能
主機(jī)可保存32000個(gè)數(shù)據(jù)
接口
EXT I/O(handler)
RS-232C
GP-IB
USB(Hi-Speed/Full-Speed)
U盤
LAN(10BASE-T/100BASE-TX)
電源
AC90~264V,50/60Hz,最大150VA
體積和質(zhì)量
約330W×119H×307Dmm,約5.8kg
主要銷售對(duì)象
•電子零部件(線圈、電容、壓電元件等)市場(chǎng)
•大學(xué)、研究開發(fā)部門
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