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匯能HN2000MX/C 電路測試儀

名稱:電路板PCB測試儀

品牌:

型號:

簡介:匯能HN2000MX/C是一款高性能的線路板測試儀,支持WIN98/WIN2000/WINXP/VISTA操作系統(tǒng),使用主流USB通信接口,匯能HN2600DX/B可以實(shí)現(xiàn)數(shù)字邏輯性能直流參數(shù)測試,數(shù)字邏輯器件在線與離線功能測試,模擬特征分...

  • 產(chǎn)品介紹

匯能HN2000MX/C是一款高性能的線路板測試儀(已停產(chǎn)),支持WIN98/WIN2000/WINXP/VISTA操作系統(tǒng),使用主流USB通信接口,匯能HN2600DX/B可以實(shí)現(xiàn)數(shù)字邏輯性能直流參數(shù)測試,數(shù)字邏輯器件在線與離線功能測試,模擬特征分析,多通道VI曲線分析比較測試等等。

    一、主要技術(shù)指標(biāo):
    1.操作系統(tǒng):支持 WIN98/WIN2000/WINXP/VISTA操作系統(tǒng)。
    2.通訊接口:主流的USB接口。
    3.?dāng)?shù)字測試通道:40通道,支持驅(qū)動電平 ±(1~15)V。
    4. 數(shù)字通道電平范圍:±15V內(nèi)全邏輯電平通道。
    5.模擬測試通道:160路。
    6.總線隔離專用數(shù)字通道:8通道。
    7.后驅(qū)動電流:≥300 mA。
    8.?dāng)?shù)字通道測試速度: (1~610 Ktv/S)8檔可選。  
    9.在線提取數(shù)字器件管腳狀態(tài): 13種。
    10.?dāng)?shù)字器件的閾值電平: TTL、CMOS5、CMOS12、ECL、EIA、3.3V緊/松調(diào)節(jié);自定義調(diào)節(jié)。
    11.程控外供電源(自動控制、自保護(hù)功能): 3.3V/2A、5V/4A、 -5V/2A、+12V/2A、-12V/2A。    
    12.電源加電延遲時間:(0.5~7)秒 6檔可選。
    13.測試探棒: 2組4個測試口。
    14.模擬信號掃描電壓幅度: ±1V~±28V, 步距0.5V可調(diào)。
    15.VI分辨率: 8~128點(diǎn)/周期。
    16.輸出阻抗匹配: 100Ω / 1KΩ/10KΩ/100KΩ可選。
    17.模擬通道最大測試頻率: 2.6KHZ。
    18.脈沖發(fā)生器脈沖幅度: ±1V~±28V。
    19.電路板網(wǎng)絡(luò)測試通/斷閾值: 25Ω±5Ω。
 
    二、 主要測試功能:
    1. 數(shù)字邏輯器件性能(直流參數(shù))測試:
     能夠?qū)Χ噙壿嬰娖綌?shù)字邏輯器件進(jìn)行在線/離線功能測試;測試器件庫龐大,僅邏輯數(shù)字器件就1 萬多種;測試范圍廣:TTL54/74系列、8000系列、9000系列、CMOS4000系列、ECL、接口器件、俄羅斯器件、西門子器件庫。。
    2.ASA(VI)模擬特征分析測試:
     ASA測試通過比較好電路板和故障電路板上相應(yīng)器件管腳的特征曲線差異檢測故障,可把故障定位到電路結(jié)點(diǎn)。ASA測試不涉及器件功能,無論何種元器件,模擬的、數(shù)字的、功能已知的、功能未知的都能檢測;ASA測試是逐管腳進(jìn)行的,基本上不受器件封裝限制,任何封裝形式的器件均可進(jìn)行測試。 ASA測試無需給電路板加電,使用較為安全。
   3.單/多端口VI曲線分析比較測試:
     對器件采取單端口或多端口的VI曲線測試方式;單端口測試方式是指每個管腳對地提取一遍阻抗特性曲線,而多端口是以任一腳做參考提取一遍VI曲線。
   4.ASA 曲線雙棒動態(tài)比較測試:
     使用雙路探棒對兩塊相同電路板上的相應(yīng)節(jié)點(diǎn)時時的進(jìn)行動態(tài)比較測試;當(dāng)被測板上的器件不能使用測試夾測試時,此種方法最有效。
   5.ASA 曲線測試智能提醒功能:
     當(dāng)使用雙探棒進(jìn)行比較測試時,如果超差,儀器會出現(xiàn)報警聲音,引起使用者注意,該測試方法利用微機(jī)喇叭產(chǎn)生類似于萬用表Beep的效果,提高了檢測效率,也大大降低了勞動強(qiáng)度。
   6.ASA 測試曲線靈敏度可調(diào):
     當(dāng)ASA曲線走勢趨向于45度時,如果曲線的數(shù)據(jù)發(fā)生變化,曲線就變化明顯,反映故障的觀察靈敏度就越精確,曲線反映故障靈敏度與測試參數(shù)相關(guān),適當(dāng)調(diào)整測試參數(shù)能夠得到更靈敏的曲線;該測試方法能夠自動搜索出對故障較靈敏的那根曲線,有效的提高了故障檢出率。
   7.可按管腳設(shè)置ASA 曲線測試參數(shù):
     可根據(jù)具體器件的測試需要,給不同管腳設(shè)置不同的測試參數(shù),可設(shè)置任一管腳為提取或不提取ASA曲線;大大提高了測試的靈活性。
   8.ASA 曲線故障快速定位/查找功能:
     當(dāng)VI測試出現(xiàn)故障曲線時,測試儀提供快速的曲線定位/查找功能選項(xiàng),使用戶觀察曲線更方便、直觀
   9. 對不穩(wěn)定疑難曲線有效識別:
     增強(qiáng)了對不穩(wěn)定疑難曲線有效識別的判斷水平,降低了誤判率,進(jìn)一步提高了測試準(zhǔn)確度。
   10. VI曲線參數(shù)值量化功能:
    即從被測電路或器件的ASA曲線中可以獲取相應(yīng)的參數(shù)測試值并保存,且能夠用寫字板或OFFICE工具軟件直接進(jìn)行編輯或?yàn)g覽。
   11.求取平均曲線的測試功能:
    用戶可以先測試多個器件,得到多個曲線文件,然后利用該功能把多個曲線文件平均成一個曲線文件,作為以后的測試比較標(biāo)準(zhǔn)。
   12.VI曲線雙板直接對比測試:
    使用雙路測試夾對兩塊相同電路板(一塊好板和一塊壞板)上的相應(yīng)IC同時進(jìn)行VI曲線提取、存儲和比較測試,測試效率極高。
   13.三端器件測試:
    完成對三端(含輸入/輸出)分立元件的動態(tài)測試功能,如三極管、可控硅、場效應(yīng)管、繼電器等元件測試。 14.ASA 曲線多種排列/顯示方式:
   可按比較誤差降序排列顯示曲線,比較誤差升序排列顯示曲線,還可按器件管腳順序排列曲線;可以“按點(diǎn)”或“畫線”來顯示曲線,單個管腳的曲線可以單獨(dú)放大或縮小。
   15.電容、電感定量測試:
    可直接在離線狀態(tài)下準(zhǔn)確測試電容的容量及漏電阻,并展現(xiàn)出電容在充放電過程中不同的阻值的過程;能夠測試出電感的電感量及串聯(lián)電阻;
   16.?dāng)?shù)字邏輯器件在線狀態(tài)測試:
    能夠提取13種復(fù)雜的電路在線狀態(tài),如開路、邏輯翻轉(zhuǎn)信號、非法電平、總線競爭等等狀態(tài),對測試器件外電路的識別能力強(qiáng)。
   17.總線競爭信號隔離功能:
    用于解除總線競爭,確保正確測試掛在總線上的三態(tài)器件(如74LS373、74LS245、等),可提供8路總線競爭隔離信號。
   18.IC型號識別:
    針對標(biāo)識不清或被擦除型號的器件,可“在線”或“離線”進(jìn)行型號識別測試。
   19. LSI大規(guī)模集成電路在線功能及狀態(tài)分析測試:
    可采取學(xué)習(xí)、比較的方式對一些常見的LSI器件進(jìn)行功能及狀態(tài)分析測試。
   20.讀寫存儲器功能測試:
    直接檢測存儲器SRAM / DRAM芯片的好壞,該測試無需事先學(xué)習(xí),有獨(dú)立的測試器件庫,可采用在線、離線測試方式。
   21.只讀存儲器功能測試:
    可采取在線(離線)學(xué)習(xí)/比較的測試方法,先把好板上EPROM中的程序讀出來,保存到計算機(jī)上,再和壞板上的相同器件中的程序進(jìn)行比較測試;測試結(jié)果定位到存儲單元地址上,并打印出該地址正確和錯誤的代碼。    22.元器件循環(huán)測試功能:
    該功能可對數(shù)字邏輯器件、集成運(yùn)放、光耦等器件進(jìn)行重復(fù)測試,直到出現(xiàn)錯誤或被終止,易于發(fā)現(xiàn)一些器件的非固定性故障(或稱為軟故障)。
   23.?dāng)?shù)字邏輯器件測試閾值可調(diào)功能:
    閾值電平是指判定器件輸出是邏緝1或邏輯0的門檻電平值。除了給出常用的幾種電平值供直接選取外,還可選自定義。此時高閾值可輸入為不大于12V,低閾值可輸入為不小于-12V的電平值。通過調(diào)整器件的閾值電平,能夠發(fā)現(xiàn)一些如器件驅(qū)動能力下降導(dǎo)致的電路故障。
    24.加電延遲可選功能:
    當(dāng)遇到被測電路板上的電源、地之間有大的濾波電容時可用到此功能。該選項(xiàng)是確定在測試儀接通外供電源以后,需要等待多長時間后才開始進(jìn)行測試。
   25.測試夾接觸檢查功能:
    主要解決當(dāng)測試夾與被測器件接觸不良(如被測器件管腳氧化腐蝕、三防漆打磨不干凈等)時,造成的測試誤判。
    26.運(yùn)算放大器在線功能測試:
    使用模擬信號測試運(yùn)放在線性放大區(qū)的工作特性,測試技術(shù)或國家發(fā)明專利,有獨(dú)立的測試器件庫,包含LM324、LM348等共計3000多種。
   27.光電耦合器在線功能測試:
    由于光耦是電流控制器件,采用電流激勵信號測試,方法科學(xué)嚴(yán)謹(jǐn),準(zhǔn)確度高;有獨(dú)立的光耦測試器件庫,達(dá)500多種
   28.光電耦合器離線直流參數(shù)測試:
    可在離線情況下對光耦的主要直流參數(shù)(如光電轉(zhuǎn)換系數(shù)等)進(jìn)行測試,解決了由于器件的參數(shù)變化難以發(fā)現(xiàn)的故障現(xiàn)象,提高了故障檢出率;
   29.UDT自定義測試平臺:
    把測試儀的測試通道開放給用戶,由用戶對被測元件或電路的輸入施加激勵信號,然后從輸出采集響應(yīng)信號,類似于函數(shù)發(fā)生器+示波器的測試方法。
   30.電路板網(wǎng)絡(luò)測試:
    使用模擬信號提取或比較線路板上任意元器件之間的連線關(guān)系,測試時無須加電,通/斷閾值設(shè)置明確。能夠支持對用戶的標(biāo)準(zhǔn)Protel 網(wǎng)絡(luò)表文件的直接導(dǎo)入,使網(wǎng)絡(luò)中的開路、短路測試變的更加方便和快捷。
   31.填表方式擴(kuò)充模擬器件庫:
    以填表的方式定義模擬器件的各個管腳狀態(tài):如:正輸入腳、負(fù)輸入腳、輸出腳、正電源腳、負(fù)電源腳、接地腳,以及其他狀態(tài)等。
   32.以編程方式擴(kuò)充數(shù)字器件庫:
    采用HNDDL語言,自適應(yīng)技術(shù)完善;把擴(kuò)充程序直接開放給用戶,由用戶自己可以自行填加測試器件庫。
   33.元器件速查手冊(電子詞典):
    元件庫容量近四萬種,供用戶查閱元器件的名稱、管腳排列、封裝等信息。
   34.維修日記:
    供記錄日常維修的經(jīng)驗(yàn)體會,發(fā)生的重要事情等,長期保存這些資料并積累經(jīng)驗(yàn),會大大提高維修水平和技能。
   35.后臺操作記錄:
    測試儀會自動記錄測試過程及測試結(jié)果等信息。
 

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