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法國(guó)Tem邊界掃描測(cè)試儀
名稱：電路板PCB測(cè)試儀
品牌：
型號(hào)：
簡(jiǎn)介：法國(guó)Tem邊界掃描測(cè)試儀針對(duì)電路板的這四個(gè)階段，或者說(shuō)這四個(gè)不同的部門，提供了適應(yīng)其各自特點(diǎn)的工作平臺(tái)。 ENG平臺(tái) 針對(duì)電路板的實(shí)驗(yàn)調(diào)試階段或部門的應(yīng)用； IND平臺(tái) 針對(duì)制定測(cè)試工藝和編制測(cè)試程序階段或部門的應(yīng)用； PRO平臺(tái) 針對(duì)生產(chǎn)...
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- 產(chǎn)品介紹
法國(guó)Tem邊界掃描測(cè)試儀針對(duì)電路板的這四個(gè)階段，或者說(shuō)這四個(gè)不同的部門，提供了適應(yīng)其各自特點(diǎn)的工作平臺(tái)。
ENG平臺(tái) 針對(duì)電路板的實(shí)驗(yàn)調(diào)試階段或部門的應(yīng)用；
IND平臺(tái) 針對(duì)制定測(cè)試工藝和編制測(cè)試程序階段或部門的應(yīng)用；
PRO平臺(tái) 針對(duì)生產(chǎn)制造階段或部門的實(shí)際測(cè)試應(yīng)用；（需要IND的編程支持）
REP 平臺(tái) 針對(duì)維修階段或部門的故障診斷修理應(yīng)用；（需要IND的編程支持）
這四個(gè)系列的產(chǎn)品每個(gè)都分為三個(gè)級(jí)別：
C級(jí)是基本級(jí)，支持1-3個(gè)TAP端口；
E級(jí)是擴(kuò)展級(jí)，支持1-6個(gè)TAP端口；
P級(jí)是完整級(jí)，支持1-無(wú)限個(gè)TAP端口
IND-P 是功能最全，級(jí)別最高的產(chǎn)品。
法國(guó)Tem邊界掃描測(cè)試儀必選的選件：
TEM1 JTAG 控制器，具備1個(gè)TAP 接口，帶一條電纜
TEM4 JTAG 控制器，具備4個(gè)TAP 接口，帶一條電纜
（以上兩個(gè)要選一項(xiàng)）
CAB 電纜
法國(guó)Tem邊界掃描測(cè)試儀其他選件：
ISP Flash 板上編程軟件
PCB PCB 圖像軟件
IO320 320點(diǎn)I/O接插件擴(kuò)展
IO60 60點(diǎn)I/O接插件擴(kuò)展
法國(guó)Tem邊界掃描測(cè)試儀使工程師可以利用JTAG標(biāo)準(zhǔn)下的邊界掃描全部功能，確認(rèn)調(diào)試和測(cè)試電路板。這個(gè)平臺(tái)包含了所有的功能：定義測(cè)試對(duì)象，檢查BSDL，檢查掃描鏈路，執(zhí)行互連測(cè)試，用TCL生成功能測(cè)試，對(duì)信號(hào)和網(wǎng)點(diǎn)做診斷，所有工作不超過(guò)2天就可以完成。一個(gè)重要的好處是，可以在設(shè)計(jì)調(diào)試階段分析測(cè)試覆蓋率和可測(cè)試性，利用網(wǎng)點(diǎn)導(dǎo)航可以方便的調(diào)整設(shè)計(jì)以提高可測(cè)試性和測(cè)試覆蓋率，使DFT進(jìn)一步優(yōu)化。
使您的工作很靈活，多功能，易擴(kuò)展，更快速！
法國(guó)Tem邊界掃描測(cè)試儀設(shè)計(jì)調(diào)試平臺(tái)技術(shù)要點(diǎn)
測(cè)試覆蓋率和可測(cè)試性分析
BSDL器件檢查
基本結(jié)構(gòu)檢查（掃描鏈路完整性檢查）
面向互連，區(qū)間，存儲(chǔ)器的ATPG自動(dòng)測(cè)試程序發(fā)生器
交互性調(diào)試
支持90種以上網(wǎng)絡(luò)表格式
使用TCL語(yǔ)言開(kāi)發(fā)用戶測(cè)試程序
用波形圖或狀態(tài)表顯示結(jié)果
交互式故障診斷電路板或器件
交互式控制和觀察寄存器，總線，引腳上的數(shù)字信號(hào)
對(duì)FLASH和PLD板上編程
SVF文件格式輸出
PCI和USB接口控制器
法國(guó)Tem邊界掃描測(cè)試儀設(shè)計(jì)調(diào)試平臺(tái)包括軟件模塊
系統(tǒng)構(gòu)建 ：定義元器件，區(qū)域，板，系統(tǒng)，網(wǎng)絡(luò)表導(dǎo)入
工具箱 ：先進(jìn)的調(diào)試功能，獨(dú)立確認(rèn)TMS, TCK, TDI, TDO, TRST信號(hào)
BSDL檢查 ：檢查BSDL符合IEEE1149.1規(guī)范
交互式調(diào)試 ：隔離故障，便于調(diào)試診斷
ATPG1基礎(chǔ) ：檢查掃描鏈路，與設(shè)計(jì)性能保持一致
ATPG2互連 ：自動(dòng)測(cè)試可測(cè)試引腳之間的互連
ATPG3存儲(chǔ)區(qū)域 ：自動(dòng)測(cè)試SRAM, SDRAM, DDR2,FLASH, NAND FLASH,
SIP Serial Flash, Asynchronous FIFO 等器件之間的互連
測(cè)試擴(kuò)展 ：TCL測(cè)試擴(kuò)展用于測(cè)試用戶自定義的其他進(jìn)一步測(cè)試
程序裝載 ：可以在調(diào)試和測(cè)試同時(shí)對(duì)FPGA和CPLD裝載程序
Flash編程（option） ：可以對(duì)任何形式的Flash存儲(chǔ)器編程
網(wǎng)表合并（option） ：自動(dòng)生產(chǎn)系統(tǒng)的網(wǎng)絡(luò)表，針對(duì)拼板測(cè)試生成
網(wǎng)點(diǎn)導(dǎo)航 ：生成交互式參考表，顯示網(wǎng)點(diǎn)，引腳，JTAG單元，
可以按名字，引腳，單元搜索
Run time生成 ：輸出所有的數(shù)據(jù)庫(kù)到其他的相關(guān)平臺(tái)
API 服務(wù)器（option） ：可以提供應(yīng)用程序接口，以和用戶使用的通用軟件平臺(tái)例如
Windows CVI, Labview 等銜接使JTAG測(cè)試一體化
法國(guó)Tem邊界掃描測(cè)試儀IND編程測(cè)試平臺(tái) 針對(duì)制定測(cè)試工藝和編制測(cè)試程序階段或部門的應(yīng)用；
本平臺(tái)自己可以執(zhí)行完整的測(cè)試，還將測(cè)試準(zhǔn)備好，完整的提交給下一個(gè)生產(chǎn)測(cè)試平臺(tái)，使得生產(chǎn)測(cè)試平臺(tái)可以簡(jiǎn)便完整的運(yùn)行測(cè)試。
法國(guó)Tem邊界掃描測(cè)試儀編程測(cè)試平臺(tái)技術(shù)要點(diǎn)
測(cè)試覆蓋率和可測(cè)試性分析
BSDL器件檢查
基本結(jié)構(gòu)檢查（掃描鏈路完整性檢查）
面向互連，區(qū)間，存儲(chǔ)器的ATPG自動(dòng)測(cè)試程序發(fā)生器
交互性調(diào)試
支持90種以上網(wǎng)絡(luò)表格式
使用TCL語(yǔ)言開(kāi)發(fā)用戶測(cè)試程序
用波形圖或狀態(tài)表顯示結(jié)果
交互式故障診斷電路板或器件
交互式控制和觀察寄存器，總線，引腳上的數(shù)字信號(hào)
對(duì)FLASH和PLD板上編程
SVF文件格式輸出
PCI和USB接口控制器
組織管理測(cè)試數(shù)據(jù)根據(jù)實(shí)際需要
運(yùn)行完整的測(cè)試程序
調(diào)整或簡(jiǎn)化測(cè)試方案
輸出測(cè)試程序給生產(chǎn)平臺(tái)
法國(guó)Tem邊界掃描測(cè)試儀編程測(cè)試平臺(tái)包括軟件模塊
系統(tǒng)構(gòu)建 ：定義元器件，區(qū)域，板，系統(tǒng)，網(wǎng)絡(luò)表導(dǎo)入
工具箱 ：先進(jìn)的調(diào)試功能，獨(dú)立確認(rèn)TMS, TCK, TDI, TDO, TRST信號(hào)
BSDL檢查 ：檢查BSDL符合IEEE1149.1規(guī)范
交互式調(diào)試 ：隔離故障，便于調(diào)試診斷
ATPG1基礎(chǔ) ：檢查掃描鏈路，與設(shè)計(jì)性能保持一致
ATPG2互連 ：自動(dòng)測(cè)試可測(cè)試引腳之間的互連
ATPG3存儲(chǔ)區(qū)域 ：自動(dòng)測(cè)試SRAM, SDRAM, DDR2,FLASH, NAND FLASH,
SIP Serial Flash, Asynchronous FIFO 等器件之間的互連
測(cè)試擴(kuò)展 ：TCL測(cè)試擴(kuò)展用于測(cè)試用戶自定義的其他進(jìn)一步測(cè)試
程序裝載 ：可以在調(diào)試和測(cè)試同時(shí)對(duì)FPGA和CPLD裝載程序
Flash編程（option） ：可以對(duì)任何形式的Flash存儲(chǔ)器編程
網(wǎng)表合并（option） ：自動(dòng)生產(chǎn)系統(tǒng)的網(wǎng)絡(luò)表，針對(duì)拼板測(cè)試生成
網(wǎng)點(diǎn)導(dǎo)航 ：生成交互式參考表，顯示網(wǎng)點(diǎn)，引腳，JTAG單元，
可以按名字，引腳，單元搜索
Run time生成 ：輸出所有的數(shù)據(jù)庫(kù)到其他的相關(guān)平臺(tái)
API 服務(wù)器（option） ：可以提供應(yīng)用程序接口，以和用戶使用的通用軟件平臺(tái)例如
Windows CVI, Labview 等銜接使JTAG測(cè)試一體化
測(cè)試管理 ：根據(jù)需要選擇調(diào)整測(cè)試方案策略
測(cè)試報(bào)告編輯 ：根據(jù)使用要求編輯任何形式的報(bào)告格式
生產(chǎn)測(cè)試準(zhǔn)備 ：本平臺(tái)自己可以執(zhí)行完整的測(cè)試，
還將測(cè)試準(zhǔn)備好，完整的提交給下一個(gè)生產(chǎn)測(cè)試平臺(tái)，使得生產(chǎn)測(cè)試平臺(tái)可以簡(jiǎn)便完整的運(yùn)行測(cè)試。
法國(guó)Tem邊界掃描測(cè)試儀PRO生產(chǎn)測(cè)試平臺(tái) 針對(duì)生產(chǎn)制造階段或部門的實(shí)際測(cè)試應(yīng)用；
法國(guó)Tem邊界掃描測(cè)試儀使測(cè)試成為很簡(jiǎn)便的一鍵式操作，只需選擇測(cè)試編程平臺(tái)傳遞下來(lái)的測(cè)試程序。管理員可以選擇測(cè)試順序和測(cè)試程序。
生產(chǎn)測(cè)試平臺(tái)技術(shù)要點(diǎn)
調(diào)入測(cè)試編程平臺(tái)的程序
執(zhí)行自動(dòng)測(cè)試和板上編程
管理員和操作員分級(jí)
打印測(cè)試報(bào)告
生產(chǎn)測(cè)試平臺(tái)包括軟件模塊
程序裝載 ：可以在測(cè)試同時(shí)對(duì)FPGA和CPLD裝載程序
Flash編程（option） ：可以對(duì)任何形式的Flash存儲(chǔ)器編程
測(cè)試報(bào)告編輯 ：根據(jù)使用要求編輯任何形式的報(bào)告格式
執(zhí)行生產(chǎn)測(cè)試 ：完整的執(zhí)行測(cè)試編程平臺(tái)傳遞過(guò)來(lái)的測(cè)試任務(wù)。
測(cè)試掃描鏈路；
確認(rèn)器件的ID碼
ATPG1，2，3的測(cè)試
擴(kuò)展的功能測(cè)試
FPGA/CPLD數(shù)據(jù)流下載
FLASH編程
條碼讀出 ：對(duì)UUT識(shí)別方便
操作員面板 ：操作員只需根據(jù)板子類型選擇測(cè)試程序，運(yùn)行測(cè)試，
讀測(cè)試報(bào)告，無(wú)需專門培訓(xùn)。
管理員面板 ：管理員在生產(chǎn)測(cè)試之前可以調(diào)整測(cè)試順序，
確定JTAK連接電纜，信號(hào)確認(rèn)
REP 診斷維修平臺(tái) 針對(duì)維修階段或部門的故障診斷修理應(yīng)用
針對(duì)返修的板子，使用本平臺(tái)可以方便快速的診斷故障進(jìn)行修理。利用生產(chǎn)平臺(tái)傳遞的信息和圖形化的電路圖可以方便的看到故障位置。利用網(wǎng)點(diǎn)導(dǎo)航可以把故障定位在網(wǎng)點(diǎn)上。結(jié)合探針可以很快的確定和排除故障。
診斷維修平臺(tái)技術(shù)要點(diǎn)
觀看電路圖圖形
圖形上標(biāo)識(shí)出故障點(diǎn)
故障點(diǎn)定位
執(zhí)行測(cè)試程序
輸出統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)
針對(duì)故障診斷需求編寫特殊測(cè)試
法國(guó)Tem邊界掃描測(cè)試儀故障平臺(tái)包括軟件模塊
工具箱 ：先進(jìn)的調(diào)試功能，獨(dú)立確認(rèn)TMS, TCK, TDI, TDO, TRST信號(hào)
交互式調(diào)試 ：隔離故障，便于調(diào)試診斷
測(cè)試擴(kuò)展 ：TCL測(cè)試擴(kuò)展用于測(cè)試用戶自定義的其他進(jìn)一步測(cè)試
程序裝載 ：可以在調(diào)試和測(cè)試同時(shí)對(duì)FPGA和CPLD裝載程序
Flash編程（option） ：可以對(duì)任何形式的Flash存儲(chǔ)器編程
測(cè)試報(bào)告編輯 ：根據(jù)使用要求編輯任何形式的報(bào)告格式
網(wǎng)點(diǎn)導(dǎo)航 ：生成交互式參考表，顯示網(wǎng)點(diǎn)，引腳，JTAG單元，
可以按名字，引腳，單元搜索
PCB 視圖（option） ：利用圖形化顯示的電路圖可以方便的看到測(cè)試顯示的故障位置
執(zhí)行生產(chǎn)測(cè)試 ：完整的執(zhí)行測(cè)試編程平臺(tái)傳遞過(guò)來(lái)的測(cè)試任務(wù)。
測(cè)試掃描鏈路；
確認(rèn)器件的ID碼
ATPG1，2，3的測(cè)試
擴(kuò)展的功能測(cè)試
FPGA/CPLD數(shù)據(jù)流下載
FLASH編程
