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SE800adv-PV 紫外/可見光光譜橢偏儀
名稱：物性分析測試儀器
品牌：
型號：
簡介：簡單信息： SENTECH光譜橢偏儀SE 800adv-PV被設(shè)計(jì)用來滿足太陽能電池行業(yè)應(yīng)用，尤其適用于粗糙表面上反射膜、玻璃/有機(jī)基底上的薄膜太陽能電池。多層膜測量、薄膜厚度不均勻性分析、折射率的梯度分析。選件請參考SE800選件?？蓽y量...
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- 產(chǎn)品介紹
簡單信息： SENTECH光譜橢偏儀SE 800adv-PV被設(shè)計(jì)用來滿足太陽能電池行業(yè)應(yīng)用，尤其適用于粗糙表面上反射膜、玻璃/有機(jī)基底上的薄膜太陽能電池。多層膜測量、薄膜厚度不均勻性分析、折射率的梯度分析。選件請參考SE800選件?？蓽y量玻璃上aSi非晶硅薄膜、TiO2薄膜、CIGS薄膜、GdTe薄膜等
商品名稱： 紫外/可見光光譜橢偏儀
商品型號： SE800adv-PV
SENTECH紫外/可見光/近紅外光譜橢偏儀SE 800針對太陽能電池應(yīng)用，可測量多晶硅/單晶硅絨面表面單層（二層或多層）減反射膜、和玻璃/有機(jī)基底上的薄膜太陽能電池。多層膜和非均勻薄膜的分析也非常出色。
針對太陽能電池應(yīng)用的光譜橢偏儀基于最佳的橢偏光路設(shè)計(jì)，高靈敏度探測單元和光譜橢偏儀分析軟件，可測量各種太陽能電池的薄膜厚度和光學(xué)常數(shù)，光學(xué)帶寬等。
·快速、精確的橢偏測量與分析
·光譜范圍寬達(dá)300nm－930nm
·步進(jìn)掃描分析器（SSA）測量模式，提高信噪比
·寬帶超消色差補(bǔ)償器，用于去極化效應(yīng)修正
·起偏器跟蹤技術(shù)，計(jì)算機(jī)控制起偏器角度
·SpectraRay II－功能強(qiáng)大的光譜橢偏測量與分析軟件
·對專家和初學(xué)者同樣易于操作
·SENTECH專有的材料數(shù)據(jù)庫和樣品應(yīng)用程序，方便有效地建模
·SpectraRay復(fù)雜軟件光譜橢偏分析包含復(fù)雜多角度、多樣品數(shù)據(jù)分析，可編程用戶接口和先進(jìn)的報告
| 光學(xué)和機(jī)械部分: | ||
| 橢偏操作原理: | 結(jié)合PSA 和 PCSA 二種模式: | |
| P: 起偏器 | ||
| C: 補(bǔ)償器 (超-消色差) | ||
| S: 樣品 | ||
| A: 步進(jìn)掃描分析器 | ||
| 光源: | 穩(wěn)定75W 氙弧燈提供UV/VIS光譜 | |
| 壽命:超過1000小時 | ||
| 起偏器 / 分析器: | UV Glan Thompson 晶體 | 計(jì)算機(jī)控制檢偏器和起偏器 |
| 消光比: | 10月6日 | |
| 測量光斑: | 手動可調(diào)直徑范圍1 mm -- 4 mm | 選件:200 μ 微光斑 |
| 探測系統(tǒng) | 高靈敏度CCD | |
| 樣品臺: | 高度和水平獨(dú)立精密調(diào)整 | |
| 樣品對準(zhǔn): | 自動對準(zhǔn)顯微鏡和光學(xué)顯微鏡適用于最準(zhǔn)確的樣品對準(zhǔn)(聚焦和水平調(diào)整) | 選件: |
| CCD 像機(jī), | ||
| 推薦用于硅太陽能電池測量 | ||
| 測量時間: | 全ψ / Δ 譜: | |
| 典型時間: < 10 s | ||
| 控制器: | 模塊化單元帶桌面橢偏光學(xué)透鏡和量角器 | |
| 分立的19”機(jī)架包含光源, 橢偏儀控制器,帶電路板和微控制器單元,光度計(jì) | ||
| 計(jì)算機(jī): | HP臺式PC機(jī), | |
| 17” TFT-FPD顯示器, 鍵盤, 鼠標(biāo), Windows XP 操作系統(tǒng) | ||
| 功率需求: | 額定電壓:115/230 VAC | |
| 自動選擇 (100-132 VAC or 207-264 VAC), | ||
| 額定頻率: 50-60 Hz, | ||
| 額定功率: 350 W. | ||
| 環(huán)境: | 普通光學(xué)實(shí)驗(yàn)室環(huán)境，也可用于百級潔凈室，不引入污染 | |
| 數(shù)據(jù)采集和分析軟件: | |
| 光譜測量 | SPECTRARAY II操作與分析軟件包括： |
| 系統(tǒng)校準(zhǔn) | |
| 自動設(shè)置光學(xué)組件 | |
| 手動執(zhí)行用戶定義的任務(wù) | |
| 光譜以標(biāo)準(zhǔn)能量（波數(shù)、電子伏特）或者波長單位顯示 | |
| 樣品響應(yīng)的逼真監(jiān)視，在線的ψ和△表述 | |
| 數(shù)據(jù)處理： | ·SPECTRARAY II包括GRAMS軟件包，可操作FT-IR系統(tǒng)和處理光譜數(shù)據(jù) |
| ·輸入/輸出：ASCII，CSV，SPC，其他光譜設(shè)備 | |
| ·數(shù)學(xué)運(yùn)算 | |
| 文件管理功能： | 軟件基于Windows XP平臺，提供全面的文件管理功能 |
| 用戶定義界面： | 基于易用的源程序代碼，用戶可方便地定義測量、操作界面 |
| Accuracy / performance精度/性能 | |
| 準(zhǔn)確度： | δ(Psi): 0.02 ° |
| δ(Delta): 0.04° | |
| (for at least 90% of all wavelength) | |
| 選件 型號 | |
| SE 800-2 | 計(jì)算機(jī)控制角度, 精度 0.01° |
| SE 800-3 | 微光斑選項(xiàng), 200μm 光斑直徑,UV/VIS |
| SE800-61 | 視頻顯示器用于對準(zhǔn)、幀抓取、微區(qū)光斑 |
| SE 800-50 | 光譜擴(kuò)展到近紅外1700 nm |
| SE-800-NIR | 改善近紅外光譜到2500 nm |
| SE 800-15 | Mapping樣品臺, x = 150 mm, y = 150 mm , (帶真空吸附) 帶快速掃描軟件 |
| SE 800-16 | Mapping樣品臺,x = 200 mm, y = 200 mm,(帶真空吸附)帶快速掃描軟件 |
| SE800-51 | 另一套軟件SpectraRayⅡ |
| SE 800-30 | 膜厚探針FTPadvanced |
| SE 400-K100 | 標(biāo)準(zhǔn)片100mm直徑,SiO2 on Si, 額定膜厚100 nm, 有校準(zhǔn)證書 |
| SE 400-K80 | 標(biāo)準(zhǔn)片100mm直徑, SiN on Si, 額定膜厚80 nm, 有校準(zhǔn)證書 |
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