布魯克Bruker HYPERION II 傅立葉變換紅外(FT-IR)和紅外激光成像(QCL)顯微鏡
名稱：光譜儀
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型號：
簡介：HYPERION II是紅外顯微鏡領域的創(chuàng)新力量。它提供低至衍射極限的紅外成像，并在ATR顯微鏡中設定基準。它首次將FT-IR和紅外激光成像（ILIM）顯微鏡結(jié)合在一個設備中，提供了三種測量模式：透射、反射和ATR。Hyperion II ...
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- 產(chǎn)品介紹
HYPERION II是紅外顯微鏡領域的創(chuàng)新力量。它提供低至衍射極限的紅外成像，并在ATR顯微鏡中設定基準。它首次將FT-IR和紅外激光成像（ILIM）顯微鏡結(jié)合在一個設備中，提供了三種測量模式：透射、反射和ATR。
Hyperion II 功能：
μ-FT-IR 探測器的選擇：
寬，中，窄頻段LN2-MCT，
熱電冷卻 （TE） MCT。用于紅外成像的焦平面陣列探測器（64 x 64 或 128 x 128 像素）。
通過激光紅外成像模塊（ILIM，激光等級1）實現(xiàn)可選QCL
物鏡選擇：3.5x/15x/36x IR、20x ATR、15x GIR、4x/40x VIS。
光譜范圍擴展 - 從近紅外線 （NIR） 到遠紅外線 （FIR）
光闌選擇：手動刀口，孔徑輪自動刀口。近紅外的金屬孔
附件和樣品臺的選擇：宏程序紅外成像配件、冷卻/加熱樣品臺、樣品倉等。
視覺/光學工具的選擇：暗場照明、熒光照明、可見光偏振器、紅外偏振器等。
Hyperion II 提供：
光譜和可見光圖片的完美匹配。適用于任何測量模式（包括 ATR 成像）。
突破衍射極限的高靈敏度 FT-IR 顯微鏡和焦平面陣列（FPA）檢測器成像。
首次通過（可選）紅外激光成像模塊（ILIM，激光等級1）將FT-IR和QCL技術結(jié)合起來。
所有測量模式下的紅外激光成像（ATR、透射、反射）。
專利相干降低技術為非人為處理的激光成像測試，無靈敏度或速度損失。
高成像速度：
0.1 毫米2每秒 （FPA， 全頻譜）
6.4 毫米2 每秒（ILIM，單波數(shù)）可選的TE-MCT探測器，用于在無液氮的情況下進行高空間分辨率和靈敏度的紅外顯微鏡檢測。
發(fā)射光譜功能和可選光譜范圍擴展。
Hyperion II 應用領域：
生命科學|細胞成像
藥物
發(fā)射率研究（例如 LED）
失效和原因分析
刑偵
微塑料
工業(yè)研發(fā)
聚合物和塑料
表面表征
半導體
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