0731-84284278
布魯克Bruker MATRIX - MF FT-IR 過程反應(yīng)監(jiān)測
名稱：光譜儀
品牌：
型號(hào)：
簡介：MATRIX-MF傅立葉變換紅外光譜儀由久經(jīng)考驗(yàn)的MATRIX系列產(chǎn)品衍生而來。中紅外區(qū)光譜信息豐富，因此MATRIX-MF可被廣泛用于實(shí)驗(yàn)室和過程分析。MATRIX-MF專為過程分析而開發(fā)，是化學(xué)和生物反應(yīng)過程實(shí)時(shí)監(jiān)測和分析的理想工具。得...
申請(qǐng)服務(wù)
- 產(chǎn)品介紹
MATRIX-MF傅立葉變換紅外光譜儀由久經(jīng)考驗(yàn)的MATRIX系列產(chǎn)品衍生而來。中紅外區(qū)光譜信息豐富，因此MATRIX-MF可被廣泛用于實(shí)驗(yàn)室和過程分析。MATRIX-MF專為過程分析而開發(fā)，是化學(xué)和生物反應(yīng)過程實(shí)時(shí)監(jiān)測和分析的理想工具。
得益于MATRIX系列屢獲殊榮的設(shè)計(jì)，MATRIX的光學(xué)元件能夠得到的很好密封保護(hù)。即使工作在最苛刻的環(huán)境下，永久準(zhǔn)直的 RockSolid?干涉儀和Digitect? 檢測器電子元件也能確保優(yōu)質(zhì)光譜的獲取。盡管該儀器專為過程控制而設(shè)計(jì)，但由于其較小的體積，它同樣是實(shí)驗(yàn)室應(yīng)用的理想之選。
<area data-res-path="/content/bruker/int/zh/products-and-solutions/infrared-and-raman/ft-ir-nir-for-process-control/matrix-mf-ft-ir-reaction-monitoring/jcr:content/root/sections/features/sectionpar/textimage/text">
MATRIX-MF具備布魯克獨(dú)特的快速接頭設(shè)計(jì)（BQC），使得光纖探頭的連接與更換非常簡單并具有很好的重復(fù)性，從而提供穩(wěn)定的結(jié)果?？梢酝ㄟ^多路轉(zhuǎn)換器的擴(kuò)展，一臺(tái)儀器可監(jiān)測多達(dá)6個(gè)反應(yīng)器。
光纖探頭
<area data-res-path="/content/bruker/int/zh/products-and-solutions/infrared-and-raman/ft-ir-nir-for-process-control/matrix-mf-ft-ir-reaction-monitoring/jcr:content/root/sections/features/sectionpar/textimage_420024748/text">
衰減全反射（ATR）采樣技術(shù)和光導(dǎo)光纖的組合，增強(qiáng)了紅外光譜的應(yīng)用。光纖探頭的原位測量技術(shù)，充分發(fā)揮出了具有豐富信息的中紅外光譜測量的優(yōu)勢。布魯克為您提供了大量可供選擇的探頭，包括專有的IN350-T金剛石ATR探頭，可以幫助您通過連接裝置進(jìn)行原位分析。
紅外光纖探頭由雙反射ATR探頭端部和優(yōu)良性能的中紅外鹵化銀光纖構(gòu)成。
IN350-T：金剛石ATR光纖探頭
(? 6 mm)，ATEX區(qū)域亦可使用IN351：微金剛石ATR光纖探頭
(? 3.17 mm)IN355：金剛石ATR光纖探頭
(? 6.3 mm)IN356-EX：金剛石ATR光纖探頭
(? 12 mm)，ATEX區(qū)域亦可使用
其它 ATR 晶體（如硅）亦可使用
<area data-res-path="/content/bruker/int/zh/products-and-solutions/infrared-and-raman/ft-ir-nir-for-process-control/matrix-mf-ft-ir-reaction-monitoring/jcr:content/root/sections/features/sectionpar/textimage_1504502814/text">
MATRIX-MF可作為實(shí)驗(yàn)室的獨(dú)立系統(tǒng)使用。較小的占地面積使得能夠安裝在19英寸的標(biāo)準(zhǔn)機(jī)柜中。您可以通過各種工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)通信協(xié)議接口（如4-20 mA、OPC、Modbus、Profibus DP等）與之進(jìn)行通訊連接，從而輕松實(shí)現(xiàn)過程系統(tǒng)的集成。
<area data-res-path="/content/bruker/int/zh/products-and-solutions/infrared-and-raman/ft-ir-nir-for-process-control/matrix-mf-ft-ir-reaction-monitoring/jcr:content/root/sections/features/sectionpar/textimage_568943732/text">
OPUS 驗(yàn)證程序（OVP）能夠利用內(nèi)置的自動(dòng)化濾光輪執(zhí)行一系列性能測試。這些性能測試可以監(jiān)測儀器硬件的性能，判斷儀器運(yùn)行狀態(tài)是否理想。MATRIX系列專為運(yùn)行的可靠性和維護(hù)的方便性而設(shè)計(jì)，各個(gè)耗件均安裝在預(yù)先對(duì)準(zhǔn)的底座上，用戶無需對(duì)準(zhǔn)光學(xué)元件，即可進(jìn)行快速更換。
最新產(chǎn)品
相關(guān)產(chǎn)品
