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布魯克BRUKER SENTERRA II 緊湊型拉曼顯微鏡
名稱：光譜儀
品牌：
型號：
簡介：布魯克BRUKER SENTERRA II 緊湊型拉曼顯微鏡被設(shè)計為具有極高靈敏度、優(yōu)異的光譜和成像性能等特點，因此SENTERRA II是一個適合高端研究應(yīng)用的強(qiáng)大平臺。由于其自動化程度高、尺寸小巧、擁有高效的工作界面，SENTERRA ...
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- 產(chǎn)品介紹
布魯克BRUKER SENTERRA II 緊湊型拉曼顯微鏡被設(shè)計為具有極高靈敏度、優(yōu)異的光譜和成像性能等特點，因此SENTERRA II是一個適合高端研究應(yīng)用的強(qiáng)大平臺。由于其自動化程度高、尺寸小巧、擁有高效的工作界面，SENTERRA II同時也是解決質(zhì)量控制實驗室實際問題的理想工具。其波數(shù)軸史無前例的永久穩(wěn)定性確保了每次測試結(jié)果的精確性和準(zhǔn)確性。SENTERRA II同時能滿足如下兩類用戶的應(yīng)用要求：每天高工作量的工作；從事前沿科研的實驗室工作。
BRUKER SENTERRA II 緊湊型拉曼顯微鏡的亮點：
研究級光譜性能；
具有向?qū)Чδ艿能浖妥詣踊挠布_保工作流程直觀、方便；
SureCALTM確保無與倫比的波數(shù)精度和準(zhǔn)確性；
簡單直接的拉曼成像；
緊湊型設(shè)計，顯微鏡內(nèi)置光譜儀；
全光譜范圍，內(nèi)含所有光柵；
多激光激發(fā)，快速切換；
和FT-Raman技術(shù)結(jié)合可以最小程度減少熒光影響；
根據(jù)USP 1120、PhEur 2.2.48、ASTM E1840和E2529-06標(biāo)準(zhǔn)的全自動化儀器測試；
完全符合GMP/cGMP、GLP和CFRp11要求；
開放架構(gòu)版本，具備更高橫向分辨率，適用于分析較大的樣本（譬如藝術(shù)品）。
布魯克BRUKER SENTERRA II 緊湊型拉曼顯微鏡技術(shù)細(xì)節(jié)：
布魯克BRUKER SENTERRA II 緊湊型拉曼顯微鏡研究級光譜性能，具備極高的檢測敏感度和高譜圖分辨率，同時不犧牲共聚焦能力。大多數(shù)應(yīng)用只需要標(biāo)準(zhǔn)光柵。該儀器可在一次掃描可覆蓋整個拉曼光譜，分辨率達(dá)到4cm-1。對于諸如同位素分裂或多晶態(tài)等要求苛刻的研究，可通過點擊鼠標(biāo)輕松設(shè)置高分辨率光柵。
布魯克BRUKER SENTERRA II 緊湊型拉曼顯微鏡直觀方便的操作，對于常規(guī)用戶和專家而言，SENTERRA II都是一種操作使用非常方便和直觀的系統(tǒng)。它是一種軟硬件緊密結(jié)合的儀器。軟件可引導(dǎo)操作人員完成顯微拉曼分析的所有步驟，而所有相關(guān)硬件調(diào)整均可自動完成。布魯克BRUKER SENTERRA II 緊湊型拉曼顯微鏡無與倫比的波數(shù)精度和準(zhǔn)確性，為取得精確結(jié)果，必須對波長軸進(jìn)行準(zhǔn)確校準(zhǔn)。布魯克獨具特色的SureCALTM技術(shù)可確保在任何時間自動永久性校準(zhǔn)波長軸，無需用戶任何操作。
布魯克BRUKER SENTERRA II 緊湊型拉曼顯微鏡保證可靠性，您可以放心的是，測試結(jié)果始終是可靠的。歸功于儀器全自動驗證程序，儀器自動完成性能驗證，同時不浪費(fèi)寶貴的分析時間。在實際分析過程中，波長軸可永久性自動校準(zhǔn)，從而保證光譜精度和準(zhǔn)確性。
布魯克BRUKER SENTERRA II 緊湊型拉曼顯微鏡方便的拉曼成像，提供強(qiáng)大的共聚焦拉曼成像和面掃描功能，無需進(jìn)行費(fèi)時費(fèi)力的參數(shù)調(diào)整即可直接使用。高效數(shù)據(jù)采集結(jié)合高精度面掃描臺可實現(xiàn)亞微米空間分辨率和快速拉曼成像。即便是高精度拉曼成像也可在短短數(shù)秒之內(nèi)測定。
布魯克BRUKER SENTERRA II 緊湊型拉曼顯微鏡克服熒光，選擇合適的激光激發(fā)，獲得有意義的拉曼譜圖，而不受熒光背景干擾，是非常重要的。SENTERRA II和FT-Raman技術(shù)結(jié)合，增加第四個近紅外激光1064nm，可以將不愿看到的熒光減小到最低。顯微FT-Raman也可以通過RamanScopeIII實現(xiàn)。
布魯克BRUKER SENTERRA II 緊湊型拉曼顯微鏡應(yīng)用范圍：
SENTERRA II能夠測量拉曼成像，并將所獲取的空間分辨分子結(jié)構(gòu)信息與樣品的高質(zhì)量顯微圖像結(jié)合在一起。用戶無需制備和接觸樣品即可完成分析，并可獲取空間分辨率精細(xì)至一微米以下的樣品表面化學(xué)圖成像。此外，透光樣品的深度剖面分析功能支持對樣品進(jìn)行非破壞性三維檢測。SENTERRA II應(yīng)用廣泛，適合用于有機(jī)和無機(jī)材料的檢測、辨別和識別。
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