鼎陽SIGLENT SNA5054X矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀是具有多種功能的射頻測量儀器,其測量頻率高達(dá)8.5GHz,支持4端口S參數(shù)測量,差分(平衡)測量,時(shí)域測量,濾波器插入損耗、帶寬、Q值等一鍵測量,支持端口阻抗轉(zhuǎn)換、端口擴(kuò)展功能,支持極限測試、紋波測試功能,支持夾具仿真和去嵌入功能,支持線性頻率掃描、對數(shù)頻率掃描、分段頻率掃描、線性功率掃描方式,支持SOLT、SOLR、TRL、Response、Enhanced Response等校準(zhǔn)方法,并且鼎陽科技具有集頻譜分析儀和矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀于一體的產(chǎn)品,可廣泛應(yīng)用于濾波器,雙工器,天線,有源器件,射頻線纜等領(lǐng)域的研發(fā),生產(chǎn)制造。
鼎陽SIGLENT SNA5054X矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀規(guī)格參數(shù)
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最高頻率 |
4.5GHz |
頻率分辨率 |
1Hz |
幅度分辨率 |
0.05dB |
中頻帶寬范圍 |
10Hz~3MHz |
輸出功率設(shè)置范圍 |
-55dBm ~ +10dBm |
動(dòng)態(tài)范圍 |
125dB |
校準(zhǔn)類型 |
響應(yīng)校準(zhǔn),增強(qiáng)響應(yīng)校準(zhǔn),單端口校準(zhǔn),全二端口校準(zhǔn),全三端口校準(zhǔn),全四端口校準(zhǔn),TRL校準(zhǔn) |
支持直流偏置功能 |
是 |
通信接口 |
LAN,USB Device,USB Host(USB-GPIB) |
遠(yuǎn)程控制 |
SCPI / Labview / IVI based on USB-TMC / VXI-11/ Socket / Telnet / Webserver |
觸摸控制 |
Multi Touch,Mouse,Keyboard |
屏幕尺寸 |
12.1英寸 |
視頻輸出 |
HDMI |
測量分析類型 |
S參數(shù)測量,差分(平衡)測量,接收機(jī)測量,時(shí)域分析、極限測試、紋波測試、帶寬分析、阻抗轉(zhuǎn)換、端口匹配、去嵌入功能等 |
低噪聲,高動(dòng)態(tài)范圍
系統(tǒng)動(dòng)態(tài)范圍是VNA一個(gè)非常重要的指標(biāo),它是VNA源的最大輸出功率與測試端口本底噪聲的差值。鼎陽SIGLENT SNA5054X矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的動(dòng)態(tài)范圍可達(dá)125dB@10Hz IFBW,接收機(jī)噪底-125dBm/Hz,可適用于對動(dòng)態(tài)范圍要求比較高的測試場景,比如同時(shí)測量濾波器的通帶和帶外抑制性能。
從S參數(shù)測試到平衡-不平衡測試
鼎陽SIGLENT SNA5054X矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀支持在多個(gè)窗口添加多條跡線進(jìn)行全4端口S參數(shù)測試,并且具備多種顯示格式,比如 Log Mag,Lin Mag,Phase,Delay,Smith,SWR,Polar等,可以方便快捷地分析被測物的傳輸系數(shù),反射系數(shù),駐波比,阻抗匹配,相位,延時(shí)等參數(shù)。在生產(chǎn)線驗(yàn)證天線,濾波器等的特性時(shí),還可以保存參考跡線或者添加Limit模板進(jìn)行通過失敗測試,有利于提高生產(chǎn)效率。
鼎陽SIGLENT SNA5054X矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀還支持端口阻抗變換功能,比如在測試有源差分放大器時(shí),可將輸入輸出端口進(jìn)行阻抗變換,從而進(jìn)行差分(平衡)測量(比如Scc,Sdd,Scd,Sdc等參數(shù))。 此功能還可應(yīng)用于差分線纜等其他差分類測試。
時(shí)域分析功能
鼎陽SIGLENT SNA5054X矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀支持TDR時(shí)域反射計(jì)測量功能,可在時(shí)域?qū)鬏斁€的特征阻抗,時(shí)延等參數(shù)進(jìn)行分析。
眼圖分析
鼎陽SIGLENT SNA5054X矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀搭載了眼圖功能,眼圖可以反映信號鏈路上傳輸?shù)臄?shù)字信號的整體特征,從中觀察出碼間串?dāng)_和噪聲的影響,進(jìn)而估計(jì)系統(tǒng)的優(yōu)劣程度。眼圖分析是高速系統(tǒng)信號完整性分析的核心,為需要對高速信號進(jìn)行時(shí)域分析的客戶節(jié)省了大量成本和時(shí)間。
消除夾具效應(yīng)
在微波射頻領(lǐng)域,如何有效消除有害的測試夾具效應(yīng)是一大挑戰(zhàn)。比如在對SMD器件進(jìn)行測試時(shí)需要特定的測試夾具實(shí)現(xiàn)測試儀器測試端與器件輸入端的轉(zhuǎn)接,導(dǎo)致測試結(jié)果中包含了測試夾具的特性。目前鼎陽SIGLENT SNA5054X矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀提供的去除測試夾具影響的方法主要有:端口延伸,端口匹配,端口阻抗轉(zhuǎn)換,去嵌入,適配器移除等。
校準(zhǔn)件
校準(zhǔn)是VNA進(jìn)行可靠測量前必須進(jìn)行的步驟。鼎陽科技目前可提供8種SOLT機(jī)械校準(zhǔn)件,分為經(jīng)濟(jì)級校準(zhǔn)件和精密級校準(zhǔn)件。校準(zhǔn)頻率范圍涵蓋DC~9GHz,接口類型包含SMA和N型。并且鼎陽SIGLENT SNA5054X矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀還可支持其他廠家的校準(zhǔn)件及客戶自定義校準(zhǔn)件的導(dǎo)入,從而保護(hù)客戶對校準(zhǔn)件的投資。