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艾克賽普 Chroma 36010 可程控邏輯腳位模塊

名稱:其他儀器與工具

品牌:

型號:

簡介:艾克賽普 Chroma 36010 可程控邏輯腳位模塊是艾克賽普公司全權代理臺灣Chroma公司的產品。以下是長沙艾克塞普儀器設備有限公司為您介紹艾克賽普 Chroma 36010 可程控邏輯腳位模塊的產品特性和功能應用,如有疑問或者需要相...

  • 產品介紹
    艾克賽普 Chroma 36010 可程控邏輯腳位模塊是艾克賽普公司全權代理臺灣Chroma公司的產品。以下是長沙艾克塞普儀器設備有限公司為您介紹艾克賽普 Chroma 36010 可程控邏輯腳位模塊的產品特性和功能應用,如有疑問或者需要相關資料,請聯(lián)系長沙艾克賽普儀器設備有限公司rengken.cn,可提供樣機和相關工程師上門演示溝通,聯(lián)系電話:0731-84284278 84284378。
艾克賽普 Chroma 36010 可程控邏輯腳位模塊圖片
艾克賽普 Chroma 36010 可程控邏輯腳位模塊產品特性:
相容于PXI 3U/混合式PXI匯流排
Date rate最高為100MHz
8個per-pin, per-cycle的 I/O雙向控制通道
可擴充至64 pin
32M sequence command 內存
17種以上的pattern sequence 指令
Per-pin 控制架構
每一腳位有 32M vector 內存
每一腳位有 32 組 clock 及 waveform
可快速切換 Waveforms 種類
可編寫的tri-level driver, 分辨率達 610uV
每個模塊皆具備高電壓驅動器
Per-channel PMU
Per-channel 時間量測組件
支持 scan pattern 功能
Windows 2000/XP 操作系統(tǒng)
支援 LabView 與 LabWindows
可選購專用軟件 CRISP
 
艾克賽普 Chroma 36010 可程控邏輯腳位模塊功能應用:

艾克賽普 Chroma 36010 可程控邏輯腳位模塊應用范圍

  • Logic and mixed signal validation and test
  • Digital pattern generator and vector capture
  • Consumer IC and electronics test
  • Logic test subsystem for DC and RF ATE

36010 可程控 100MHz 邏輯腳位模塊,可用于特性分析、驗證以及數(shù)字 / 混合訊號 IC或電子組件測試。每個模塊包含一組Sequence Pattern Generator以及8個I/O雙向控制通道。36010最多可擴充達64組通道以符合不同用途,此外,基于per-pin的架構, 每個通道皆配有32M的vector memory、32組clock、32組waveform與1個 PMU channel,與其他類似性能的 ATE 設備相比, 36010 可提供快速且精確的測試功能。

Sequence Pattern Generator 
36010 可程控邏輯腳位模塊提供17種以上的 sequence 指令,包括 jump、match、 loop、 repeat等,可以控制pattern的執(zhí)行流程。 36010 配有 32M的 sequence command 內存,允許每行 vector 擁有獨立的sequence command 來控制 pattern的執(zhí)行流程。此外, 每個Sequence Pattern Generator 可以支持最多8個Logic Pin Electronics Cards, 即表示最多可支持64 個I/O channels 與8個 DUT同時測試。

艾克賽普 Chroma 36010 可程控邏輯腳位模塊邏輯腳位模塊 
每張邏輯腳位卡皆采用 Chroma® PINF ICs 來達到高精準的timing及彈性化 waveform output 功能。Per-pin timing generator 提供32組clock,包含6個可編輯的edges。至于 per-pin waveform generator則可提供每組I/O雙向控制通道 32 組可編輯的 waveform,具有快速切換的特性。在 analog的功能中,邏輯腳位模塊具有tri-level的 driver 與 comparator,可編寫分辨率達610uV, 36010 同時配有 active load、per-pin PMU 以及高電壓驅動功能。另外,36010 也支持scan pattern 功能,可進行掃描測試。

專用軟件 CRISP(Chroma Integrated Software Platform) 
除了支持 LabView 與 LabWindows 環(huán)境之外, Chroma® 也提供了專用軟件CRISP作為選擇。為了涵蓋各種IC debugging的需求,CRISP包含許多軟件模塊,CRISP的作業(yè)平臺為Microsoft Windows XP®,使用 C++ 作為測試程序語言,提供用戶簡易、彈性化以及快速的圖形化接口軟件來符合各種需求。Project IDE tool 可以讓測試程序的產生更為簡單與快速;在 test program debugging 的場合,CR I S P 提供完整的 d e b u g gi n g 軟件工具,包含 Pl an Debugge r、Da t a log、 Waveform、Scope、SHMOO、Pin Margin、 Wafer Map、Summary、Histogram、STDF、Test Condition Monitor、Pattern Editor等完整的工具給使用者。


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