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布魯克Bruker S8 FABLINE-T 監(jiān)測表面分析儀
名稱:其他儀器與工具
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簡介:布魯克Bruker S8 FABLINE-T 監(jiān)測表面分析儀解決方案通過TXRF(全反射X射線熒光分析)監(jiān)測晶圓表面上的痕量金屬污染物。布魯克Bruker S8 FABLINE-T 監(jiān)測表面分析儀是一種快速、無損的表面敏感技術(shù),無需使用液體...
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