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捷歐路JEOL JEM-3200FS 場發(fā)射透射電子顯微鏡
名稱:其他儀器與工具
品牌:
型號:
簡介:捷歐路JEOL JEM-3200FS 場發(fā)射透射電子顯微鏡配備了最高加速電壓為300kV的場發(fā)射電子槍(FEG)和鏡筒內(nèi)置式型能量過濾器,能為廣泛的研究領(lǐng)域提供各種全新的解決方案。捷歐路JEOL JEM-3200FS 場發(fā)射透射電子顯微鏡鏡...
物鏡極靴*1 | 超高分辨UHR | 高分辨率HR | 高傾斜HT | 高襯度HC |
分辨率 | ||||
點(diǎn)分辨率 晶格分辨率 |
0.17nm 0.1nm |
0.19nm 0.1nm |
0.21nm 0.1nm |
0.26nm 0.14nm |
能量分辨率 | 0.9 eV(零損失FWHM) | |||
加速電壓 | 300kV,200kV,100kV*2 | |||
最小步長 能量位移 |
100V 最大3,000V (以0.2V為步長) |
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電子槍 | ||||
發(fā)射體 | ZrO/W(100) 肖特基式 | |||
亮度 | ≧7×108 A/cm2 ・ sr | |||
真空度 | 3×10-8Pa | |||
探針電流 | 探針直徑為1nm時,電流在0.5nA以上 | |||
穩(wěn)定度 | ||||
加速電壓 | 2×10-6/min | |||
物鏡電流 | 1×10-6/min | |||
過濾器透鏡電流 | 1×10-6/min | |||
物鏡 | ||||
焦距 | 2.7 mm | 3.0 mm | 3.5 mm | 3.9 mm |
球差系數(shù) | 0.6 mm | 1.1 mm | 1.4 mm | 3.2 mm |
色差系數(shù) | 1.5 mm | 1.8 mm | 2.2 mm | 3.0 mm |
最小焦距步長 | 1.0 nm | 1.4 nm | 1.5 nm | 4.1 nm |
束斑尺寸 | ||||
TEM 模式 | 2 ~ 5 nmφ | 2 ~ 5 nmφ | 7 ~ 30 nmφ | |
EDS 模式 | 0.4 ~ 1.6 nmφ | 0.5 ~ 2.4 nmφ | 4 ~ 20 nmφ | |
NBD 模式 | 0.4 ~ 1.6 nmφ | 0.5 ~ 2.4 nmφ | - | |
CBD 模式 | 0.4 ~ 1.6 nmφ | 0.5 ~ 2.4 nmφ | - | |
電子束衍射 | ||||
衍射角(2α) | 1.5 t~ 20 mrad | - | ||
取出角 | ±10 ° | - | ||
倍率 | ||||
MAG 模式 | ×2,500 ~ 1,500,000 | ×2,000 ~ 1,200,000 | ×1,500 ~ 1,200,000 | |
LOW MAG 模式 | ×100 ~ 3,000 | |||
SA MAG 模式 | ×8,000 ~ 600,000 | ×6,000 ~ 500,000 | ×5,000 ~ 500,000 | |
視野 |
10eV時狹縫寬度60mm(底片上) 2eV時狹縫寬度25mm(底片上) |
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相機(jī)長度 | ||||
選區(qū)電子衍射 | 200 ~ 2,000 mm | 250 ~ 2,500 mm | 400 ~ 3,000 mm | |
EELS 散射 | ||||
能量選擇 在能量選擇狹縫上 |
0.85 μm/eV , 300 kV | |||
底片上 | 100 ~ 220 μm/eV , 300kV | |||
樣品室 | ||||
樣品移動范圍 (XY/Z) | 2mm/0.2mm | 2mm/0.4mm | 2mm/0.4mm | 2mm/0.4mm |
樣品傾斜角 (X/Y) | ±25°/±25°*3 | ±35°/±30°*3 | ±42°/±30°*3 | ±38°/±30°*3 |
EDS*4 | ||||
固體角 | 0.13 sr | 0.09 sr | ||
取出角 | 25° | 20° |
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