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島津SHIMADZU LEXT OLS4500 原子力顯微鏡
名稱：其他儀器與工具
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簡介：島津SHIMADZU LEXT OLS4500 原子力顯微鏡是結(jié)合了傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡、激光掃描顯微鏡（LSM）以及掃描探針顯微鏡（SPM）功能的一體機(jī)。島津SHIMADZU LEXT OLS4500 原子力顯微鏡可以滿足不同樣品的觀測需求，是...
- 產(chǎn)品介紹
島津SHIMADZU LEXT OLS4500 原子力顯微鏡是結(jié)合了傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡、激光掃描顯微鏡（LSM）以及掃描探針顯微鏡（SPM）功能的一體機(jī)。島津SHIMADZU LEXT OLS4500 原子力顯微鏡可以滿足不同樣品的觀測需求，是一臺(tái)新時(shí)代的觀察、測量裝置。
島津SHIMADZU LEXT OLS4500 原子力顯微鏡可以輕松實(shí)現(xiàn)從毫米到納米的觀察和測量，放大倍率由幾十倍到高達(dá)百萬倍。找到觀測目標(biāo)（觀察對象）后，您可以在光學(xué)顯微鏡模式、激光顯微鏡模式和探針顯微鏡模式之間自由切換，而不用擔(dān)心目標(biāo)丟失。并且您可以使用探針顯微鏡迅速而正確的完成觀察，大大縮短了獲取影像的時(shí)間。這些便是OLS4500一體機(jī)的自由操作帶給您的益處。更加方便、更加順利地完成超大范圍觀察和測量。實(shí)現(xiàn)了自由切換操作的島津SHIMADZU LEXT OLS4500 原子力顯微鏡，閃亮登場。
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光學(xué)顯微鏡的原理和特長：光學(xué)顯微鏡是從樣品上方照射可見光（波長約400nm~800nm），利用其反射光成像，能夠放大樣品數(shù)十倍到一千倍左右進(jìn)行觀察。光學(xué)顯微鏡的特長是可以真實(shí)觀察彩色樣品，還可以切換觀察方法，強(qiáng)調(diào)樣品表面的凹凸，利用物質(zhì)特性（偏光性）進(jìn)行觀察。島津SHIMADZU LEXT OLS4500 原子力顯微鏡上可以使用下述觀察方法。
激光顯微鏡的原理和特長：可進(jìn)行亞微米級觀察和測量的激光顯微鏡、卓越的Z軸測量。光學(xué)顯微鏡的平面分辨率很大程度取決于光的光子和波長，采用短波長的激光顯微鏡（LSM） 比采用可見光的傳統(tǒng)顯微鏡，擁有更高的平面分辨率。島津SHIMADZU LEXT OLS4500 原子力顯微鏡采用405nm的短波長半導(dǎo)體激光、高數(shù)值孔徑的專用物鏡、以及獨(dú)特的共焦光學(xué)系統(tǒng)，可以達(dá)到0.12µm的平面分辨率。此外，島津SHIMADZU LEXT OLS4500 原子力顯微鏡配有奧林巴斯獨(dú)有的掃描加掃描型2D掃描儀，可以實(shí)現(xiàn)高達(dá)4096×4096像素的高精度XY掃描。
探針顯微鏡的原理和特長：探針顯微鏡（SPM）是通過機(jī)械式地用探針在樣品表面移動(dòng)，檢測出探針與樣品之間產(chǎn)生的力、電的相互作用，同時(shí)進(jìn)行掃描，從而得到樣品影像。探針尖端曲率半徑為10nm左右。典型的探針顯微鏡是原子力顯微鏡（AFM：Atomic Force Microscope），它通過檢測探針和樣品表面之間作用的引力和張力進(jìn)行掃描并獲得影像。探針顯微鏡能夠觀察納米級微觀形貌，可以捕捉到樣品最精細(xì)的一面。可以觀察納米級微觀世界的探針顯微鏡、通過微懸臂掃描進(jìn)行納米級觀察、多種觀察模式在影像中呈現(xiàn)表面形狀和物性、決定高精細(xì)度、高質(zhì)量影像的微懸臂。
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