天瑞Skyray EDX3000PLUS X熒光貴金屬檢測(cè)儀在測(cè)量金、銀、鉑、鈀等貴金屬含量上功能獨(dú)到。天瑞Skyray EDX3000PLUS X熒光貴金屬檢測(cè)儀采用25mm2大面積鈹窗探測(cè)器,可準(zhǔn)確無誤地分析出黃金,鉑金和K金飾品中金、銀、鉑、鈀、銅、鋅、鎳的含量,測(cè)試結(jié)果完全符合國標(biāo)GB/T 18043-2000要求。天瑞Skyray EDX3000PLUS X熒光貴金屬檢測(cè)儀應(yīng)用于黃金,鉑,銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)。
天瑞Skyray EDX3000PLUS X熒光貴金屬檢測(cè)儀性能優(yōu)勢(shì)如下:
超高分辨率::采用SDD硅漂移探測(cè)器 ,分辨率為139±5ev ,而常規(guī)的Si-PIN探測(cè)器,分辨率為160±5eV, 能更好的檢測(cè)鉑金中銥和金的含量。
超高精確度,性能最優(yōu):使用25mm2大面積鈹窗探測(cè)器,大大提高樣品特征X熒光的接收能力。配合數(shù)字多道分析器技術(shù),提高分析速度,總體提高系統(tǒng)處理能力,計(jì)數(shù)率最大可達(dá)8萬,比Si-PIN 6mm2探頭提高了5-10倍,精度提高了2-4倍。
超清晰攝像頭,精確定位:采用新型工業(yè)級(jí)相機(jī),樣品圖像更加清晰,輕松實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)定位。
小準(zhǔn)直器,輕松實(shí)現(xiàn)精小部位測(cè)試:提供多種準(zhǔn)直器,直徑最小達(dá)0.2mm,可輕松實(shí)現(xiàn)精小部位的精確測(cè)試,同時(shí)可根據(jù)測(cè)試需求電動(dòng)切換準(zhǔn)直器,使測(cè)量更加輕松更加準(zhǔn)確。
一鍵式智能式操作,省去選曲線煩惱:FP法的完整使用,只需一鍵操作即可智能化自動(dòng)匹配曲線,操作一步到位。
以下是艾克賽普為您介紹天瑞Skyray EDX3000PLUS X熒光貴金屬檢測(cè)儀的技術(shù)參數(shù),如有相關(guān)問題,請(qǐng)聯(lián)系長沙艾克賽普儀器儀表公司rengken.cn,聯(lián)系電話:0731-84284278 84284378。
元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)
分析檢出限可達(dá)ppm級(jí)
分析含量一般為ppm到99.99%
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回歸程序
溫度適應(yīng)范圍為15℃至30℃
電源:交流220V±5V,建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
能量分辨率:139±5eV
儀器配置:移動(dòng)樣品平臺(tái)、SDD探測(cè)器、數(shù)字多道分析系統(tǒng)、高低壓電源、大功率X光管、計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)、外觀尺寸: 550×416×333mm、樣品腔尺寸:460×298×98mm、質(zhì)量:45Kg。
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