天瑞Skyray Thick800A X熒光鍍層測(cè)厚儀是天瑞集多年的經(jīng)驗(yàn),專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款儀器,天瑞Skyray Thick800A X熒光鍍層測(cè)厚儀可全自動(dòng)軟件操作,可多點(diǎn)測(cè)試,由軟件控制儀器的測(cè)試點(diǎn),以及移動(dòng)平臺(tái)。天瑞Skyray Thick800A X熒光鍍層測(cè)厚儀是一款功能強(qiáng)大的儀器,配上專門為其開(kāi)發(fā)的軟件,在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。
天瑞Skyray Thick800A X熒光鍍層測(cè)厚儀的性能特點(diǎn):滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求;φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求;高精度移動(dòng)平臺(tái)可精確定位測(cè)試點(diǎn),重復(fù)定位精度小于0.005mm;采用高度定位激光,可自動(dòng)定位測(cè)試高度;定位激光確定定位光斑,確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊;鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái),鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn);高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn);良好的射線屏蔽作用;測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)。
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型號(hào):Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)。
同時(shí)可以分析30種以上元素,五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
外觀尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg
天瑞Skyray Thick800A X熒光鍍層測(cè)厚儀的標(biāo)準(zhǔn)配置:開(kāi)放式樣品腔。精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái),探測(cè)器和X光管上下可動(dòng),實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。Si-Pin探測(cè)器。信號(hào)檢測(cè)電子電路。高低壓電源。X光管。高度傳感器。保護(hù)傳感器。計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)。
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