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儀器中文名稱:冷場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
儀器所在城市及單位:北京市 北京大學(xué)
儀器型號(hào)規(guī)格:S-4800
生產(chǎn)廠商:日本日立公司
國(guó)別:日本
購(gòu)買日期：
使用日期(年):
認(rèn)證情況:已進(jìn)行計(jì)量認(rèn)證
主要技術(shù)指標(biāo):
主要附件及功能:本儀器對(duì)系統(tǒng)真空度要求高，適合測(cè)試導(dǎo)電樣品，對(duì)不導(dǎo)電樣品測(cè)試效果不如環(huán)境掃描顯微鏡；可根據(jù)要求隨時(shí)開關(guān)高壓；有兩個(gè)真空室，小的預(yù)真空室用于更換樣品，非常簡(jiǎn)單快捷。應(yīng)用范圍：可用于表征各種微、納米材料、器件等。
儀器負(fù)責(zé)人: 肖先生
E-mail: shawn.xiao@hncswnet
檢測(cè)項(xiàng)目：
收費(fèi)標(biāo)準(zhǔn):面議