服務(wù)熱線
0731-84284278
儀器中文名稱:x射線光電子能譜儀
儀器所在城市及單位:北京市 清華大學(xué)
儀器型號規(guī)格:PHI-5300
生產(chǎn)廠商:美國PE-PHI公司
國別:美國
購買日期：
使用日期(年):
認(rèn)證情況：已進(jìn)行計(jì)量認(rèn)證
主要技術(shù)指標(biāo):
主要附件及功能:1.固體樣品的表面組成分析，化學(xué)狀態(tài)分析，取樣深度3nm 2.元素成分的深度分析 3.可進(jìn)行樣品的原位處理適用于：納米薄膜材料，微電子材料，催化劑，摩擦化學(xué)，高分子材料的表面和界面研究。
儀器負(fù)責(zé)人: 肖先生
E-mail: shawn.xiao@hncswnet
檢測項(xiàng)目：
收費(fèi)標(biāo)準(zhǔn)： 面議