nikon尼康 激光掃描測頭LC15Dx
名稱:物性分析測試儀器
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型號:
簡介:尼康 LC15D X 革命性第三代激光掃描測頭 精度可媲美接觸式測頭 LC15Dx 完全可以替代接觸式測頭,用于日益普遍的高精度三坐標測量機應用。該機器可在不影響生產(chǎn)周期的情況下更精確地測量產(chǎn)品尺寸。此外,它還能更高效地測量多種部件、幾何體...
nikon尼康 激光掃描測頭LC15Dx完全可以替代接觸式測頭,用于日益普遍的高精度三坐標測量機應用。該機器可在不影響生產(chǎn)周期的情況下更精確地測量產(chǎn)品尺寸。此外,它還能更高效地測量多種部件、幾何體及材料,其中包括因尺寸極小或易碎而不宜使用接觸式測頭測量的部件。
采用最新激光掃描測頭技術的 LC15Dx 達到了與接觸式測頭同級別的精度。在按照 ISO 10360-2 MPEP 和 ISO 10360-5 MPEAL 的測試中,LC15Dx 達到了與使用三坐標測量機和接觸式測頭相當?shù)木取5c接觸式測頭不同的是,LC15Dx 使用非接觸式 3D 激光三角測量法直接測量物體表面并消除了測頭補償誤差。掃描測頭內(nèi)部裝有熱穩(wěn)定器,可解決激光掃描測頭在未達到工作溫度時容易出現(xiàn)的不穩(wěn)定和延遲問題。
尼康獨有的 ESP3 技術可針對每個測量點實時智能調整激光設定。它可以更高效地測量更多種類的表面材料、飾面、顏色及連接體(包括小尺寸和易碎部件)及混合材料的尺寸,且無需用戶干預、手動調節(jié)以及表面噴粉。先進的濾光軟件過濾若干非正常反射,而高級日光濾光片則可吸收環(huán)境光。
全局比較功能可提供產(chǎn)品外觀尺寸的全 3D 視圖。整個部件可與 CAD 模型進行對比檢查,并用色彩映射高亮顯示需要關注的區(qū)域。還可使用彈出菜單、截面圖和幾何尺寸與公差(GD&T)庫進行進一步的研究和分析。用戶可根據(jù)需要讓設備自動生成或簡易或詳細的測量報告。
LC15Dx 可使用包括 FOCUS 和 CAMIO在內(nèi),適用于部件與 CAD 對比檢測和特征檢測的常用軟件工具包。
重要功能包括:
• CAD 編程 • 多傳感器三坐標測量機
• 最佳擬合 • 離線編程
• 部件與 CAD 對比 • 點云測量
• 特征檢測 • GD&T 庫
• 葉片分析 • 教學編程
• 色彩報告 • 離線模擬
LC15Dx 在測量多種高精度部件和幾何體(包括精細部件、半鋼性部件和高性能材料)時具有顯著優(yōu)勢:
處理:生產(chǎn) - 研發(fā) - 逆向工程
方法:機械加工 - 模塑 - 模壓 - 澆鑄 - 鍛造
材料:金屬 - 塑料 - 橡膠 - 陶土 - 陶瓷 - 合成材料
表面處理:機械加工 - 拋光 - 電鍍 - 油漆 - 混色
結構: 剛硬 - 柔軟 - 柔韌 - 易碎
特征: 表面 - 幾何特征 - 剖面 - 截面
某些情況下,采用單傳感器技術無法測量所有特征。LC15Dx 可結合使用選購的接觸式測頭構成多傳感器三坐標多功能測量機。根據(jù)應用需求,可在相同的檢測項目中單獨或共同使用這兩項技術。在三坐標測量機平臺上加裝切換和存儲支架選購件后,可以自動切換傳感器。
使用 LC15Dx 來改進您當前的三座標測量機是一種低成本高收益的解決方案。這種改進基于現(xiàn)有的三座標測量機控制器硬件,附之以兼容的先進測頭系統(tǒng),構成可進行接觸及非接觸式測量的多傳感器三座標多功能測量機。
LC15Dx 改進套件可用于以下三座標測量機控制器系統(tǒng)。
• Aberlink • Hexagon DEA • Renishaw
• Deva • Hexagon Brown & Sharpe • Wenze
• Coord3 • Hexagon Sheffield • Werth
• Dukin • Mitutoyo • Zeiss
探測誤差(MPEP)1 | 2.5μm (0.0001in) |
多測針測試(MpeAL)2 | 6μm (0.00024in) |
分辨率(點距) | 22μm (0.00087in) |
數(shù)據(jù)采集(近似值) | 70,000 點/秒 |
每線點數(shù)(近似值) | 900 |
測量溫度范圍 | 18-22°C (64.4-71.6°F) |
工作溫度范圍 | 10-40°C (50-104°F) |
預熱時間 | 0(零)秒 |
重量 | 370g (13oz) |
防護等級 | IP30 |
電源 | 110/240VAc, 50/60Hz 5A |
增強掃描測頭性能(ESP3) | √ |
日光濾光片 | √ |
測頭兼容性3 | PH10M, PH10MQ, CW43, PHS |
激光類型 | 2 類(670μm) |
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