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nikon尼康 渦輪葉片以及大型鑄件的CT掃描工作站XT H 450
名稱：物性分析測(cè)試儀器
品牌：
型號(hào)：
簡(jiǎn)介：450kV的超強(qiáng)微焦點(diǎn)射線源 XTH450LC，應(yīng)用于渦輪葉片測(cè)定以及眾多中小型鑄件的無(wú)損檢測(cè)領(lǐng)域，并慢慢成為一種新的重要檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)。這個(gè)型號(hào)的機(jī)器核心450kV微焦點(diǎn)射線管源擁有優(yōu)異的解析度以及精度。搭配晶體光柵的高性能線陣探測(cè)器更是讓曲面...
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450kV的超強(qiáng)微焦點(diǎn)射線源
XTH450LC，應(yīng)用于渦輪葉片測(cè)定以及眾多中小型鑄件的無(wú)損檢測(cè)領(lǐng)域，并慢慢成為一種新的重要檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)。這個(gè)型號(hào)的機(jī)器核心450kV微焦點(diǎn)射線管源擁有優(yōu)異的解析度以及精度。搭配晶體光柵的高性能線陣探測(cè)器更是讓曲面效應(yīng)以及射線散射現(xiàn)象等得到根本解決，在渦輪葉片以及其他眾多金屬零件的檢測(cè)中得到近乎完美的效果。
主要特點(diǎn)
• 獨(dú)立的450kV微焦點(diǎn)射線源
• 最大可掃描樣品的尺寸達(dá)到直徑500mm，高度600mm
• 可走入式的大鉛房以及大型的樣品艙門讓樣品的放置以及維護(hù)檢測(cè)變得更加方便
• 五軸樣品操作臺(tái)最大載重可達(dá)100kg
• 高效率的線陣探測(cè)器與面陣平板探測(cè)器可以同時(shí)搭載以滿足不同需求。（選配）
• 專門為渦輪葉片定制的質(zhì)量合格判斷應(yīng)用程序。
引進(jìn)功能
• 將靈活性整合到一個(gè)系統(tǒng)里:X射線快速可視化檢測(cè)，CT重構(gòu)精密解析
• 快速獲取高品質(zhì)圖像
• 人機(jī)交互式操作桿導(dǎo)航界面使用快速直觀
• 高清晰度數(shù)字圖像與圖像處理
• 不需要特別外加防護(hù)的完備安全系統(tǒng)
• 通用于業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)的后處理應(yīng)用格式
用途
• 渦輪葉片的內(nèi)部構(gòu)造與詳細(xì)分析
• 渦輪葉片的合格與否自動(dòng)判定
• 幾十微米級(jí)別要求的金屬零件跟鑄件等的精度檢測(cè)
XT H 450 LC，用于葉片和鑄件的CT檢測(cè)，
帶有高功率450kV微焦點(diǎn)X射線源
Metris XT H 450 LC建立了渦輪葉片測(cè)量和中小鑄件NDT檢測(cè)的新參考標(biāo)準(zhǔn)。這臺(tái)功能強(qiáng)大的設(shè)備的核心部件是一個(gè)450kV微焦點(diǎn)源，可提供超高分辨率和超高精度。
彎曲的線性陣列探測(cè)器通過(guò)消除散射現(xiàn)象，優(yōu)化了X射線圖像的采集，散射現(xiàn)象通常會(huì)影響葉片和其它金屬件的二維射線照片。該探測(cè)器是一臺(tái)非常靈活的設(shè)備，可處理小金屬件到大金屬件，例如葉片、鑄件等
優(yōu)點(diǎn) 可靈活地整合在單個(gè)系統(tǒng)中：X射線可用于快速目視檢測(cè)，CT可用于深入分析
快速數(shù)據(jù)采集和高質(zhì)量圖像
高分辨率數(shù)字成像和處理
嵌入式安全裝置可使操作人員安全地操作該系統(tǒng)，無(wú)需任何特殊的預(yù)防措施或安全警示標(biāo)志
特性
獨(dú)特的450kV微焦點(diǎn)源
測(cè)量體積可達(dá)600mm直徑和600mm高度
高效線性探測(cè)器，>80%量子檢測(cè)有效率
五軸完全可編程托盤式操縱器，帶精密滾珠絲桿和線性滑軌
特別適用于渦輪葉片的自動(dòng)通過(guò)/不通過(guò)檢測(cè)
應(yīng)用
渦輪葉片內(nèi)部結(jié)構(gòu)的詳細(xì)分析
葉片的自動(dòng)通過(guò)/不通過(guò)檢測(cè)
需要微米精度的高密度部件檢測(cè)（例如金屬件、鑄件）
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