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DUV/VIS/NIR光譜型橢偏儀SE850DUV
名稱：物性分析測(cè)試儀器
品牌：
型號(hào)：
簡(jiǎn)介：簡(jiǎn)單信息： 深紫外主要用于研究超薄膜、表面粗糙度，并可研究溫度、應(yīng)力、張力、摻雜、組份、晶態(tài)等對(duì)材料禁帶寬度的影響；深紫外也可研究AlGaN, AlN等寬禁帶材料，測(cè)量膜厚0-10nm。可見(jiàn)光可測(cè)量折射率梯度。近紅外使用FTIR，測(cè)量時(shí)間短...
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- 產(chǎn)品介紹
簡(jiǎn)單信息： 深紫外主要用于研究超薄膜、表面粗糙度，并可研究溫度、應(yīng)力、張力、摻雜、組份、晶態(tài)等對(duì)材料禁帶寬度的影響；深紫外也可研究AlGaN, AlN等寬禁帶材料，測(cè)量膜厚0-10nm。可見(jiàn)光可測(cè)量折射率梯度。近紅外使用FTIR，測(cè)量時(shí)間短（全光譜、多角度測(cè)量可在10分鐘內(nèi)完成）.
商品名稱： DUV/VIS/NIR光譜型橢偏儀
商品型號(hào)： SE850DUV
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