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布魯克Bruker Anasys nanoIR3-s 納米掃描近場(chǎng)光學(xué)成像系統(tǒng)
名稱：光譜儀
品牌：
型號(hào)：
簡(jiǎn)介：布魯克Anasys的 nanoIR3-s 系統(tǒng)將散射掃描近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡（s-SNOM）、納米級(jí)紅外光譜（AFM-IR）與原子力顯微鏡（AFM）完美整合到單一平臺(tái)。 依托 Anasys 技術(shù)在 AFM 納米光學(xué)表征方面的領(lǐng)先地位，nanoIR...
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- 產(chǎn)品介紹
布魯克Anasys的 nanoIR3-s 系統(tǒng)將散射掃描近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡（s-SNOM）、納米級(jí)紅外光譜（AFM-IR）與原子力顯微鏡（AFM）完美整合到單一平臺(tái)。 依托 Anasys 技術(shù)在 AFM 納米光學(xué)表征方面的領(lǐng)先地位，nanoIR3-s 可提供納米級(jí)紅外光譜、化學(xué)成像和光學(xué)成像，在 2D 材料樣品上實(shí)現(xiàn) 10 納米空間分辨率。 該系統(tǒng)還可以提供達(dá)到納米級(jí)分辨率的 AFM 形貌和性能成像，因此是對(duì)各種材料科學(xué)應(yīng)用開(kāi)展相關(guān)性研究的理想儀器。
石墨烯等離子體
石墨烯等離子體：石墨烯楔上表面等離極化激元（SPP）的 s-SNOM 相位和振幅圖像。 （左圖）s-SNOM 相位與 SPP 駐波線型截面； （右圖） s-SNOM 振幅。 上圖是相位圖的 3D 視圖（左圖）。
高分辨性能成像
高分辨性能成像：通過(guò)石墨烯片的橫截面顯示了 10nm 以下分辨率的光學(xué)屬性成像。
高性能納米級(jí) FTIR 光譜
超快寬帶s-SNOM光譜，探測(cè)分子振動(dòng)信息。 聚四氟乙烯（PTFE）激光干涉圖顯示，時(shí)域（上圖）內(nèi)發(fā)生自由感應(yīng)衰減形式的相干分子振動(dòng)。 樣品干涉圖中突出顯示特征的形成原因是，C-F 模式的對(duì)稱模式和反對(duì)稱模式在所產(chǎn)生的頻域跳動(dòng)（左下圖）。 單層 pNTP（右下圖）上展示了納米級(jí) FTIR 的單層靈敏度。 數(shù)據(jù)提供：Markus Raschke 教授，美國(guó)科羅拉多大學(xué)博爾德分校。
只有 nanoIR3-s 能夠提供：
高性能納米級(jí) FTIR 光譜
高性能紅外近場(chǎng)光譜，采用目前最先進(jìn)的納米紅外激光源
納米級(jí) FTIR 光譜，采用集成式DFG，可與寬帶同步輻射光源集成
適用于光譜和化學(xué)成像的多芯片 QCL 激光源
點(diǎn)光譜技術(shù)
POINTspectra 激光器可執(zhí)行多個(gè)波長(zhǎng)的光譜分析和高分辨光學(xué)成像。 nanoIR3-s讓測(cè)試更加簡(jiǎn)單：
1.在 AFM 圖像中選擇要測(cè)量的特征
2.測(cè)量樣品的波譜，選擇感興趣的波長(zhǎng)
3.采集高分辨光學(xué)屬性圖
根據(jù)對(duì)多個(gè)波長(zhǎng)的干涉圖的快速測(cè)量，獲得空間分辨率達(dá)到 10nm 的振幅和相位圖像 實(shí)現(xiàn) 10nm 分辨率Tapping AFM-IR，用于獨(dú)特的互補(bǔ)性紅外光譜分析。
寬帶激光選項(xiàng)
納米級(jí) FTIR 光譜，具有最廣泛的可用光譜范圍（670 至 4000 cm?1）
nanoIR3-s系統(tǒng)配備可選的OPO/DFG飛秒激光技術(shù)，可提供最廣泛的光譜范圍，以實(shí)現(xiàn)高性能組合光譜和高分辨率納米化學(xué)成像。這套獨(dú)特的功能可以在歷史上無(wú)法進(jìn)入的光譜區(qū)域進(jìn)行廣泛的研究領(lǐng)域的研究。
互補(bǔ)的高分辨率成像
可以生成高質(zhì)量、高分辨率的納米光學(xué)圖像，用于表征各種光學(xué)現(xiàn)象，例如六方氮化硼（hBN）中的石墨烯普拉蒙學(xué)和表面聲子極化子，以及生物和其他有機(jī)樣品的化學(xué)成像。
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