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布魯克Bruker ContourGT-K 三維光學(xué)顯微鏡
名稱：其他儀器與工具
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簡介：布魯克Bruker ContourGT-K 三維光學(xué)顯微鏡提供最全面的表面測量與成像技術(shù)，性能卓越、操作簡便的桌上型三維光學(xué)顯微鏡，布魯克Bruker ContourGT-K 三維光學(xué)顯微鏡完善了表面測量和分析的新標(biāo)準(zhǔn)，這套測量系統(tǒng)擁有工業(yè)...
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- 產(chǎn)品介紹
布魯克Bruker ContourGT-K 三維光學(xué)顯微鏡提供最全面的表面測量與成像技術(shù)，性能卓越、操作簡便的桌上型三維光學(xué)顯微鏡，布魯克Bruker ContourGT-K 三維光學(xué)顯微鏡完善了表面測量和分析的新標(biāo)準(zhǔn)，這套測量系統(tǒng)擁有工業(yè)領(lǐng)先的測量性能和靈活性，采用專利白光干涉技術(shù)，超大視野內(nèi)埃級至毫米級的垂直計量范圍，具有業(yè)界最高的垂直分辨率和測量重復(fù)性。憑借其獨特的直觀用戶界面和功能最全的自動化檢測、分析功能，方便用戶快速高效的獲得材料粗糙度、二維/三維表面分析以及高分辨成像，廣泛應(yīng)用于LED、太陽能電池、薄膜材料、MEMS、精密機械零部件、摩擦磨損等各個領(lǐng)域，滿足各種表面測量的實際需求。布魯克Bruker ContourGT-K 三維光學(xué)顯微鏡集三十年表面測量技術(shù)之大成，將創(chuàng)新技術(shù)與業(yè)界測量經(jīng)驗完美融合到一套非接觸式表面測量系統(tǒng)上，憑借低噪音、高速度、高分辨精確測量，滿足各類測試需求。任意選擇不同的放大倍率，在極寬的測量范圍內(nèi)，對樣品表面形狀和紋理進行表征，在任何倍率下，從亞納米級到超過10毫米級垂直測量量程提供了無與倫比的測量靈活性，是當(dāng)今生產(chǎn)研究和質(zhì)量控制檢測的最佳選擇。
布魯克Bruker ContourGT-K 三維光學(xué)顯微鏡提高表面測量和分析速度，布魯克Bruker ContourGT-K 三維光學(xué)顯微鏡測試系統(tǒng)上，用戶可自定義分析選項，多核處理器和Vision64®軟件將數(shù)據(jù)處理、分析速度提高十倍，大大提高測試效率。同時完善了軟件和硬件功能，人性化的工作流程、頂尖的光學(xué)測試系統(tǒng)、高性價比的檢測平臺，使其成為桌上型三維光學(xué)顯微鏡的最佳選擇。除了標(biāo)準(zhǔn)配置的各種檢測功能，客戶還可以自定義測試方案，選擇各類各級配件或特殊測試模塊：全自動X、Y、Z樣品臺；NanolensTM AFM模塊；特殊應(yīng)用測試軟件。
如果您需要布魯克Bruker ContourGT-K 三維光學(xué)顯微鏡及布魯克品牌儀器、或者其他品牌儀器，均可聯(lián)絡(luò)我司銷售部門：0731-84284278 84284378。
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