布魯克Bruker InSight AFP 半導體計量儀
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簡介：布魯克Bruker InSight AFP 半導體計量儀是世界上最高的性能和腐蝕深度計量系統(tǒng)先進技術節(jié)點。系統(tǒng)結合了原子力顯微鏡的最新創(chuàng)新,包括力量的專有PeakForce技術、原子力分析器的證明長掃描功能。取代昂貴的晶片漿紗切片,洞察AF...
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布魯克Bruker InSight AFP 半導體計量儀是世界上最高的性能和腐蝕深度計量系統(tǒng)先進技術節(jié)點。系統(tǒng)結合了原子力顯微鏡的最新創(chuàng)新,包括力量的專有PeakForce®技術、原子力分析器的證明長掃描功能。取代昂貴的晶片漿紗切片,洞察AFP監(jiān)測腐蝕深度、碟形,在亞微米和侵蝕特性與無與倫比的可重復性。以其激進的增加速度和準確性、力量的第五代法新社提供業(yè)界最高的分辨率,最快的分析,快速三維映射死去,亞微米生產和平滑的配置文件。
布魯克Bruker InSight AFP 半導體計量儀測量非破壞性和不敏感材料,使分析到10nm節(jié)點控制CMP過程。提供最高thorughput可用,系統(tǒng)可以監(jiān)控每小時15晶片(5網站),1垂直分辨率。布魯克Bruker InSight AFP 半導體計量儀系統(tǒng)提供3d的熱點信息,使優(yōu)化布置熱管的熱性能更好,更高的電效率,降低整體成本。布魯克Bruker InSight AFP 半導體計量儀比其他同類儀器提供1-2mm/秒的分析速度,布魯克Bruker InSight AFP 半導體計量儀擁有<2小時die-map能力。
如果您需要布魯克Bruker InSight AFP 半導體計量儀及布魯克品牌儀器、或者其他品牌儀器，均可聯絡我司銷售部門：0731-84284278 84284378。
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