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捷歐路JEOL Serial Block-face SEM 3View 肖特基場發(fā)射掃描電子
名稱：其他儀器與工具
品牌：
型號：
簡介：捷歐路JEOL Serial Block-face SEM 3View 肖特基場發(fā)射掃描電子顯微鏡能長時間穩(wěn)定地提供高電流下的微細(xì)探針，與3View2XP（Gatan公司制造）結(jié)合使用，能對樣品進(jìn)行自動切割，自動獲取圖像。通過對獲得的圖像進(jìn)...
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- 產(chǎn)品介紹
捷歐路JEOL Serial Block-face SEM 3View 肖特基場發(fā)射掃描電子顯微鏡能長時間穩(wěn)定地提供高電流下的微細(xì)探針，與3View®2XP（Gatan公司制造）結(jié)合使用，能對樣品進(jìn)行自動切割，自動獲取圖像。通過對獲得的圖像進(jìn)行三維重構(gòu)，可以對精細(xì)結(jié)構(gòu)進(jìn)行三維分析。
| JSM-7100F | JSM-7800F | |
| 分辨率 | 1.2nm (30kV)、3.0nm (1kV) | 0.8nm (15kV)、1.2nm (1kV) |
| 加速電壓 | 0.5～30kV | 0.01～30kV |
| 放大倍率 | x 10～1,000,000 | x 25～1,000,000 |
| 3View®2XP | |
| 切割厚度 | 15～200nm (生物類樣品 25～50nm) |
| 切割速度 | 0.1～1.2mm / 秒 |
| 刀片的切割距離 | 1.2mm |
| 樣品臺驅(qū)動范圍 | X/Y: ±700μm Z: 600μm |
捷歐路JEOL Serial Block-face SEM 3View 肖特基場發(fā)射掃描電子顯微鏡系統(tǒng)簡介
JSM-7100F、7800F和3View®2XP（Gatan產(chǎn)品）組合使用，能獲得大量的大范圍的切片圖像。這樣就能夠進(jìn)行數(shù)百微米區(qū)域的三維重構(gòu)。通過三維重構(gòu)能夠觀察二維圖像上無法看到的細(xì)胞的深處結(jié)構(gòu)。
操作
自動、反復(fù)地切割樣品和獲取圖像，能獲得大量的切片圖像。 對獲得的切片圖像，通過軟件進(jìn)行堆疊、調(diào)節(jié)、生成三維圖像。
應(yīng)用數(shù)據(jù)
小鼠大腦 突觸
細(xì)分?jǐn)?shù)據(jù)
黃色區(qū)域：突觸囊泡
綠化面積：突觸后部增厚部分
紅色區(qū)域：突觸后部
樣品: 承蒙瑞典隆德大學(xué)醫(yī)學(xué)系生物成像中心的Deniz Kirik 和 Lina Gefors教授
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