尼康nikon N-SIM 超分辨率顯微鏡可獲得傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡兩倍的分辨率。使用獨特的光學(xué)科技與制造技術(shù),尼康享譽全球的Eclipse Ti研究級顯微鏡并配備卓越的CFI Apo TIRF 100x oil物鏡(N.A. 1.49),以此為基礎(chǔ)又結(jié)合了由UCSF(University of California,San Francisco舊金山加州大學(xué))所授權(quán)的SIM技術(shù)就形成了全新的N-SIM系統(tǒng)。N-SIM在實現(xiàn)超級分辨率的同時還能以0.6秒/幀的時間分辨率實現(xiàn)了業(yè)內(nèi)最高的超分辨率圖像獲取速度。
尼康nikon N-SIM 超分辨率顯微鏡結(jié)合UCSF授權(quán)的“結(jié)構(gòu)化照明顯微術(shù)(S tructured I llumination M icroscopy)”與尼康聲譽卓著的CFI Apo TIRF 100x oil物鏡(N.A. 1.49)N-SIM幾乎實現(xiàn)了傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡兩倍的分辨率
尼康nikon N-SIM 超分辨率顯微鏡提供業(yè)內(nèi)最高的超分辨率圖像獲取速度,可實現(xiàn)0.6秒/幀2D SIM與1秒/幀3D SIM的時間分辨率,能有效進行活細胞成像。
尼康nikon N-SIM 超分辨率顯微鏡使用選配的雙相機組件*為顯微鏡鏈接兩臺EMCCD相機。可使用488nm與561nm激發(fā)光實現(xiàn)同時雙波長超分辨率成像。 *Andor Technology Ltd