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尼康nikon N-SIM E 超分辨率顯微鏡
名稱：其他儀器與工具
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簡介：尼康nikon N-SIM E 超分辨率顯微鏡運用結(jié)構(gòu)照明顯微鏡技術(shù)，實現(xiàn)了2倍于傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡的空間分辨率（約115nm）。作為一套精簡、經(jīng)濟的超分辨率系統(tǒng)，N-SIM E支持常用的激發(fā)波長和基本的成像模式，是個人實驗室的理想選擇。 尼康...
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- 產(chǎn)品介紹
尼康nikon N-SIM E 超分辨率顯微鏡運用結(jié)構(gòu)照明顯微鏡技術(shù)，實現(xiàn)了2倍于傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡的空間分辨率（約115nm）。作為一套精簡、經(jīng)濟的超分辨率系統(tǒng)，N-SIM E支持常用的激發(fā)波長和基本的成像模式，是個人實驗室的理想選擇。
尼康nikon N-SIM E 超分辨率顯微鏡結(jié)合“結(jié)構(gòu)照明顯微技術(shù)”，并搭配尼康知名的CFI超分辨率復(fù)消色差TIRF 100x油鏡（NA 1.49），將空間分辨率提升至傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡的近2倍（約115nm），可以觀察細(xì)胞內(nèi)結(jié)構(gòu)的微小細(xì)節(jié)以及它們之間的相互作用。
*488nm激光激發(fā)，3D-SIM模式
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超分辨率成像（Slice 3D SIM 模式） 傳統(tǒng)寬場成像
尼康nikon N-SIM E 超分辨率顯微鏡實現(xiàn)高速超分辨圖像獲取，時間分辨率約1秒/幀，支持活細(xì)胞高分辨成像。Slice 3D SIM模式用于300nmZ軸分辨率的光學(xué)斷層超分辨率成像。Stack 3D-SIM模式（選配）用于厚樣品的多層序列超分辨率成像，具有比Slice 3D-SIM模式更高的成像對比度。
尼康nikon N-SIM E 超分辨率顯微鏡專用的緊湊型LU-N3-SIM 激光臺，預(yù)裝了最常用的3個激光器（488/561/640），可進(jìn)行多色超分辨率成像。用于研究細(xì)胞水平多個蛋白間相互作用以及動態(tài)過程。
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