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頻譜分析儀的一些特別的用法總結(jié)
2014-09-22
頻譜儀對(duì)射頻工程師來(lái)說(shuō)應(yīng)該不會(huì)陌生, 它和網(wǎng)絡(luò)分析儀, 波形儀是三個(gè)最基本的測(cè)試儀器. 和網(wǎng)絡(luò)分析儀不同, 頻譜儀是用來(lái)分析對(duì)其未知的信號(hào)頻率分量(頻率和功率), 而網(wǎng)絡(luò)分析儀是分析已知信號(hào)通過(guò)測(cè)試IC后的性能.
詳細(xì)的使用方法這里就不細(xì)談了, 大家可以查查網(wǎng)上資料或者操作手冊(cè)就知. 假設(shè)大家已經(jīng)知道一些常用的參數(shù), 比如RBW, VBW, SPAN, Refence, ATT等這些常用參數(shù)了.這里談?wù)勔恍┨貏e的測(cè)試方法.
1)測(cè)試PLL的相位噪聲.
測(cè)試相位噪聲我們可以用PLL分析儀, 但是其實(shí)頻譜儀也可以測(cè)試, 一般RBW調(diào)成300Hz(有些老式的SPA可能沒(méi)有這么高的帶寬分解度), 然后把span設(shè)成偏移頻率的2倍, 比如測(cè)試10kHz頻偏的相位噪聲的話(huà), SPAN設(shè)成20KHz, 由相位噪聲的定義可知, 就是10kHz處噪聲的功率密度和中心頻率的功率密度的比值. 比如10kHz的功率和中心功率差65dBc, 即可推出PN=-65-10log(300)=-99dBc/Hz, 注意是每Hz的噪聲功率密度的比值.
2)測(cè)試波形功率的時(shí)間變化
有時(shí)侯我們需要觀(guān)測(cè)功率隨時(shí)間的變化, 一般我們要用波形儀來(lái)測(cè)試, 其實(shí)某些頻譜儀也有這些功能, 把SPAN設(shè)成”0”, 相當(dāng)于X軸就變成了時(shí)間軸, 然后在測(cè)試段的功率有變化的時(shí)候, 就能觀(guān)測(cè)到功率變化量和過(guò)渡時(shí)間的情況了.
3)測(cè)試信號(hào)的頻率響應(yīng)特性
比如輸出段要接個(gè)低通濾波器, 我們要比較LPF接之前和之后的頻率響應(yīng)有多少變化, 這時(shí)候可以把SG設(shè)成掃頻, SPA設(shè)成”Maxhold”, SPA上捕捉到的信號(hào)就是最大功率(Carrier信號(hào))的頻響.
在使用頻譜儀的時(shí)候, 有時(shí)侯Probe是帶有固定增益的, 測(cè)出的信號(hào)功率需要注意減掉這部分功率. 另外測(cè)試相位噪聲時(shí), 根據(jù)頻譜儀的自身性能(SPA自身也是個(gè)接收系統(tǒng), 也有LO產(chǎn)生相位噪聲), 所以一般在10M以外的測(cè)試結(jié)果誤差比較大, 10Khz以?xún)?nèi)的結(jié)果又可能精度比較差, 需要注意這一點(diǎn).
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