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影響涂層測厚儀測量的若干因素
2015-08-13
1，基體金屬磁性 磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為時輕微的）。為了避免熱處理、冷加工等因素的影響，應(yīng)使用與試件金屬具有相同性質(zhì)的鐵基片對儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。
2，基體金屬厚度 每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度測量就不受基體厚度的影響。
3，邊緣效應(yīng) 本儀器對試片表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試片邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測量是不可靠的。
4，曲率 試件的曲率對測量有影響，這種影響總是隨著曲率半徑的減小明顯地增大。因此不應(yīng)在試件超過允許的曲率半徑的彎曲面上測量。
5，表面粗糙度 基體金屬何覆蓋層的表面粗糙度對測量有影響。粗糙度增大，影響增大。粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差何偶然誤差。每次測量時，在不同位置上應(yīng)增加測量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未屠夫的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點(diǎn)；或用沒有腐蝕性的溶液除去基體金屬覆蓋層，再校對儀器的零點(diǎn)。
6，磁場 周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場，會嚴(yán)重地干擾磁性法測量厚度的工作。
7，附著物質(zhì) 本儀器對那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感。因此必須清除附著物質(zhì)，以保證探頭與覆蓋層表面直接接觸。
8，探頭壓力 探頭置于試件上施加的壓力大小會影響測量的讀數(shù)。因此本儀器探頭用彈簧保持一個基本恒定的壓力。
9，探頭的放置 探頭的放置方式對測量有影響。在測量中，應(yīng)當(dāng)使探頭與試樣表面保持垂直。
10，試件的變形 探頭使軟覆蓋層試件變形。因此在這些試件上會測出不太可靠的數(shù)據(jù)。 讀數(shù)次數(shù) 通常儀器的每次讀數(shù)并不完全相同。因此必須在每一測量面積內(nèi)取幾個讀數(shù)，覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內(nèi)進(jìn)行多次測量。表面粗糙時更應(yīng)如此。
涂層測厚儀產(chǎn)品鏈接：http://rengken.cn/product/thickness-tester/
2，基體金屬厚度 每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度測量就不受基體厚度的影響。
3，邊緣效應(yīng) 本儀器對試片表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試片邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測量是不可靠的。
4，曲率 試件的曲率對測量有影響，這種影響總是隨著曲率半徑的減小明顯地增大。因此不應(yīng)在試件超過允許的曲率半徑的彎曲面上測量。
5，表面粗糙度 基體金屬何覆蓋層的表面粗糙度對測量有影響。粗糙度增大，影響增大。粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差何偶然誤差。每次測量時，在不同位置上應(yīng)增加測量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未屠夫的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點(diǎn)；或用沒有腐蝕性的溶液除去基體金屬覆蓋層，再校對儀器的零點(diǎn)。
6，磁場 周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場，會嚴(yán)重地干擾磁性法測量厚度的工作。
7，附著物質(zhì) 本儀器對那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感。因此必須清除附著物質(zhì)，以保證探頭與覆蓋層表面直接接觸。
8，探頭壓力 探頭置于試件上施加的壓力大小會影響測量的讀數(shù)。因此本儀器探頭用彈簧保持一個基本恒定的壓力。
9，探頭的放置 探頭的放置方式對測量有影響。在測量中，應(yīng)當(dāng)使探頭與試樣表面保持垂直。
10，試件的變形 探頭使軟覆蓋層試件變形。因此在這些試件上會測出不太可靠的數(shù)據(jù)。 讀數(shù)次數(shù) 通常儀器的每次讀數(shù)并不完全相同。因此必須在每一測量面積內(nèi)取幾個讀數(shù)，覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內(nèi)進(jìn)行多次測量。表面粗糙時更應(yīng)如此。
涂層測厚儀產(chǎn)品鏈接：http://rengken.cn/product/thickness-tester/
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