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布魯克Bruker M4 TORNADO X射線熒光光譜儀
名稱：光譜儀
品牌：
型號：
簡介：微區(qū)X射線熒光光譜分析技術(shù)是對不均勻樣品、不規(guī)則樣品、甚至小件樣品和包裹物進(jìn)行高靈敏度的、非破壞性的元素分析的首選方法。采用多導(dǎo)毛細(xì)管聚焦鏡將激發(fā)光聚焦到非常小的區(qū)域，以獲得極佳的空間分辨率，進(jìn)行快速分析。任何類型的樣品都可以通過簡單的樣品...
- 產(chǎn)品介紹
微區(qū)X射線熒光光譜分析技術(shù)是對不均勻樣品、不規(guī)則樣品、甚至小件樣品和包裹物進(jìn)行高靈敏度的、非破壞性的元素分析的首選方法。采用多導(dǎo)毛細(xì)管聚焦鏡將激發(fā)光聚焦到非常小的區(qū)域，以獲得極佳的空間分辨率，進(jìn)行快速分析。任何類型的樣品都可以通過簡單的樣品制備甚至不制備直接進(jìn)行分析。
布魯克Bruker M4 TORNADO X射線熒光光譜儀采用了全新的技術(shù)，為各種用戶提供了最佳的分析性能和非常方便的操控性。布魯克Bruker M4 TORNADO X射線熒光光譜儀采用多導(dǎo)毛細(xì)管聚焦鏡，照射光斑最小，空間分辨率最高。渦輪增速X-Y-Z樣品臺，借助放大倍數(shù)可變的攝像系統(tǒng)獲得高品質(zhì)的樣品影像，可在“飛行中”進(jìn)行元素分布分析。高強(qiáng)度的X射線光管與多導(dǎo)毛細(xì)管聚焦鏡相結(jié)合，確保在非常小的照射區(qū)域內(nèi)獲得非常高的激發(fā)強(qiáng)度。采用濾光片和可以同時(shí)使用的配有不同靶材的雙光管，可以根據(jù)不同的分析要求，優(yōu)化激發(fā)光譜。使用XFlash®探測器超高速地獲取樣品圖譜，另外，使用多個探測器。
以下是艾克賽普為您介紹布魯克Bruker M4 TORNADO X射線熒光光譜儀的技術(shù)參數(shù)，如有相關(guān)問題，請聯(lián)系長沙艾克賽普儀器儀表公司rengken.cn，聯(lián)系電話：0731-84284278 84284378。
布魯克Bruker M4 TORNADO X射線熒光光譜儀的技術(shù)參數(shù)：樣品類型 固體、顆粒、液體、多層膜；樣品室尺寸 W×D×H：600×350×260mm；樣品臺尺寸 W×D：330×170mm；測量氣氛 大氣/真空，在100秒內(nèi)準(zhǔn)備就緒；樣品移動 最大移動范圍 W×D×H：270×240×120mm；移動速度 渦輪增速樣品臺最大移動速度可達(dá)100mm/s；激發(fā) 配多導(dǎo)毛細(xì)管聚焦鏡的高強(qiáng)度X射線光管 ；選項(xiàng)：可同時(shí)使用不同靶材的雙光管
X射線光管參數(shù)：可選靶材有Mo，Ag，Cu，W。電壓 50kV,800μA；光斑小于30μm（對于Mo-K）；根據(jù)用戶要求，最多6塊濾光片；XFlash®硅漂移探測器；可最多同時(shí)使用3個探測器。探測器參數(shù)：有效面積10mm2，選項(xiàng)：30mm2；能量分辨率計(jì)數(shù)率250,000cps時(shí)分別優(yōu)于125eV、135eV。
先進(jìn)的PC機(jī)，Windows XP或Vista操作系統(tǒng)；儀器控制功能 光管參數(shù)、濾光片、光學(xué)顯微鏡、樣品照明和樣品定位的全面控制；光譜評估 譜峰識別、人工和自動背景校正、峰面積計(jì)算、對于塊狀樣品和多層膜樣品基于標(biāo)樣和無標(biāo)樣模式的定量分析；分布分析 “飛行中”測量模式，HyperMap軟件功能；結(jié)果顯示定量結(jié)果、統(tǒng)計(jì)計(jì)算、元素分布（線掃描、面分布）；電源要求 110-240V（1P），50/60Hz
尺寸（寬×深×高） 815×680×580mm，130kg；質(zhì)量和安全DIN EN ISO 9001:2000認(rèn)證, CE認(rèn)證；完全輻射防護(hù)系統(tǒng)；輻射劑量＜1μSv/h。
如果你需要布魯克Bruker M4 TORNADO X射線熒光光譜儀及布魯克品牌儀器、或者其他品牌儀器，均可聯(lián)絡(luò)我司銷售部門：0731-84284278 84284378。
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