吉時利 KEITHLEY 自動分析套件
名稱：可編程電源
品牌：
型號：
簡介：吉時利 KEITHLEY 自動分析套件是功能強大的軟件架構，吉時利 KEITHLEY 自動分析套件便于工程師對半導體器件進行各種測試，對其特性進行詳細的分析。吉時利 KEITHLEY 自動分析套件可以與吉時利公司多種業(yè)界一流的源測量單元（S...
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- 產(chǎn)品介紹
吉時利 KEITHLEY 自動分析套件是功能強大的軟件架構，吉時利 KEITHLEY 自動分析套件便于工程師對半導體器件進行各種測試，對其特性進行詳細的分析。吉時利 KEITHLEY 自動分析套件可以與吉時利公司多種業(yè)界一流的源測量單元（SMU）儀器及系統(tǒng)配合使用。利用標準的吉時利 KEITHLEY 自動分析套件，可以對在晶圓級或晶匣級對自動探針進行控制。對于手動和單一器件測試，可以考慮ACS Basic Edition. 對于高級多個待測器件晶圓級可靠性測試，可以使用吉時利 KEITHLEY 自動分析套件以及ACS-2600-RTM。以下是艾克賽普為您介紹吉時利 KEITHLEY 自動分析套件的應用范圍，如有相關問題，請聯(lián)系長沙艾克賽普儀器儀表公司rengken.cn，聯(lián)系電話：0731-84284278 84284378。
吉時利 KEITHLEY 自動分析套件的不同應用范圍：
組件特性分析
對 MOSFET、雙極晶體管、二極管、高功率IGBT等分立半導體器件的各種深度測試和測量結果進行創(chuàng)建和管理。下面對吉時利公司諸多“測量能力”進行探討和介紹。
C器件特性分析
對各種IC器件和測試結構的諸多深度測試、測量結果及參數(shù)采集進行創(chuàng)建和管理，包括MOSFET、MOSCAP、二極管、可靠性測試結果等。下面對吉時利公司諸多“測量能力”進行探討和介紹。
晶圓級可靠性
自動特性分析套件 (ACS)包括與HCI、NBTI、TDDB、EM等有關的各種測試模塊和項目。而且吉時利公司的多種源測量單元儀器和系統(tǒng)已經(jīng)擴展至多通道并行測試、超快NBTI、超高壓Vds擊穿測試。下面對吉時利公司諸多“測量能力”進行探討和介紹。
模片分類
吉時利公司為半導體器件、傳感器、MEMS以及小型模擬IC的片上模片分類或 已知優(yōu)良模片(KGD) 測試提供高速解決方案，通過專有的高精密源測量單元（SMU）儀器或IV儀器可以對這類器件進行測試和分裝。下面對吉時利公司諸多“測量能力”進行探討和介紹。
參數(shù)測試
自動特性分析套件 (ACS)可用于過程控制監(jiān)視(PCM)以及其他相關應用。由于它可以與圖形用戶接口（GUI）進行交互，非常適合小批量生產(chǎn)應用以及包含各種半定制硬件配置的實驗室應用。
吉時利 KEITHLEY 自動分析套件的不同應用范圍：
組件特性分析
對 MOSFET、雙極晶體管、二極管、高功率IGBT等分立半導體器件的各種深度測試和測量結果進行創(chuàng)建和管理。下面對吉時利公司諸多“測量能力”進行探討和介紹。
C器件特性分析
對各種IC器件和測試結構的諸多深度測試、測量結果及參數(shù)采集進行創(chuàng)建和管理，包括MOSFET、MOSCAP、二極管、可靠性測試結果等。下面對吉時利公司諸多“測量能力”進行探討和介紹。
晶圓級可靠性
自動特性分析套件 (ACS)包括與HCI、NBTI、TDDB、EM等有關的各種測試模塊和項目。而且吉時利公司的多種源測量單元儀器和系統(tǒng)已經(jīng)擴展至多通道并行測試、超快NBTI、超高壓Vds擊穿測試。下面對吉時利公司諸多“測量能力”進行探討和介紹。
模片分類
吉時利公司為半導體器件、傳感器、MEMS以及小型模擬IC的片上模片分類或 已知優(yōu)良模片(KGD) 測試提供高速解決方案，通過專有的高精密源測量單元（SMU）儀器或IV儀器可以對這類器件進行測試和分裝。下面對吉時利公司諸多“測量能力”進行探討和介紹。
參數(shù)測試
自動特性分析套件 (ACS)可用于過程控制監(jiān)視(PCM)以及其他相關應用。由于它可以與圖形用戶接口（GUI）進行交互，非常適合小批量生產(chǎn)應用以及包含各種半定制硬件配置的實驗室應用。
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