0731-84284278
吉時(shí)利 KEITHLEY 自動(dòng)分析套件
名稱：可編程電源
品牌：
型號(hào)：
簡介：吉時(shí)利 KEITHLEY 自動(dòng)分析套件是功能強(qiáng)大的軟件架構(gòu)，吉時(shí)利 KEITHLEY 自動(dòng)分析套件便于工程師對(duì)半導(dǎo)體器件進(jìn)行各種測(cè)試，對(duì)其特性進(jìn)行詳細(xì)的分析。吉時(shí)利 KEITHLEY 自動(dòng)分析套件可以與吉時(shí)利公司多種業(yè)界一流的源測(cè)量單元（S...
申請(qǐng)服務(wù)
- 產(chǎn)品介紹
吉時(shí)利 KEITHLEY 自動(dòng)分析套件是功能強(qiáng)大的軟件架構(gòu)，吉時(shí)利 KEITHLEY 自動(dòng)分析套件便于工程師對(duì)半導(dǎo)體器件進(jìn)行各種測(cè)試，對(duì)其特性進(jìn)行詳細(xì)的分析。吉時(shí)利 KEITHLEY 自動(dòng)分析套件可以與吉時(shí)利公司多種業(yè)界一流的源測(cè)量單元（SMU）儀器及系統(tǒng)配合使用。利用標(biāo)準(zhǔn)的吉時(shí)利 KEITHLEY 自動(dòng)分析套件，可以對(duì)在晶圓級(jí)或晶匣級(jí)對(duì)自動(dòng)探針進(jìn)行控制。對(duì)于手動(dòng)和單一器件測(cè)試，可以考慮ACS Basic Edition. 對(duì)于高級(jí)多個(gè)待測(cè)器件晶圓級(jí)可靠性測(cè)試，可以使用吉時(shí)利 KEITHLEY 自動(dòng)分析套件以及ACS-2600-RTM。以下是艾克賽普為您介紹吉時(shí)利 KEITHLEY 自動(dòng)分析套件的應(yīng)用范圍，如有相關(guān)問題，請(qǐng)聯(lián)系長沙艾克賽普儀器儀表公司rengken.cn，聯(lián)系電話：0731-84284278 84284378。
吉時(shí)利 KEITHLEY 自動(dòng)分析套件的不同應(yīng)用范圍：
組件特性分析
對(duì) MOSFET、雙極晶體管、二極管、高功率IGBT等分立半導(dǎo)體器件的各種深度測(cè)試和測(cè)量結(jié)果進(jìn)行創(chuàng)建和管理。下面對(duì)吉時(shí)利公司諸多“測(cè)量能力”進(jìn)行探討和介紹。
C器件特性分析
對(duì)各種IC器件和測(cè)試結(jié)構(gòu)的諸多深度測(cè)試、測(cè)量結(jié)果及參數(shù)采集進(jìn)行創(chuàng)建和管理，包括MOSFET、MOSCAP、二極管、可靠性測(cè)試結(jié)果等。下面對(duì)吉時(shí)利公司諸多“測(cè)量能力”進(jìn)行探討和介紹。
晶圓級(jí)可靠性
自動(dòng)特性分析套件 (ACS)包括與HCI、NBTI、TDDB、EM等有關(guān)的各種測(cè)試模塊和項(xiàng)目。而且吉時(shí)利公司的多種源測(cè)量單元儀器和系統(tǒng)已經(jīng)擴(kuò)展至多通道并行測(cè)試、超快NBTI、超高壓Vds擊穿測(cè)試。下面對(duì)吉時(shí)利公司諸多“測(cè)量能力”進(jìn)行探討和介紹。
模片分類
吉時(shí)利公司為半導(dǎo)體器件、傳感器、MEMS以及小型模擬IC的片上模片分類或 已知優(yōu)良模片(KGD) 測(cè)試提供高速解決方案，通過專有的高精密源測(cè)量單元（SMU）儀器或IV儀器可以對(duì)這類器件進(jìn)行測(cè)試和分裝。下面對(duì)吉時(shí)利公司諸多“測(cè)量能力”進(jìn)行探討和介紹。
參數(shù)測(cè)試
自動(dòng)特性分析套件 (ACS)可用于過程控制監(jiān)視(PCM)以及其他相關(guān)應(yīng)用。由于它可以與圖形用戶接口（GUI）進(jìn)行交互，非常適合小批量生產(chǎn)應(yīng)用以及包含各種半定制硬件配置的實(shí)驗(yàn)室應(yīng)用。
吉時(shí)利 KEITHLEY 自動(dòng)分析套件的不同應(yīng)用范圍：
組件特性分析
對(duì) MOSFET、雙極晶體管、二極管、高功率IGBT等分立半導(dǎo)體器件的各種深度測(cè)試和測(cè)量結(jié)果進(jìn)行創(chuàng)建和管理。下面對(duì)吉時(shí)利公司諸多“測(cè)量能力”進(jìn)行探討和介紹。
C器件特性分析
對(duì)各種IC器件和測(cè)試結(jié)構(gòu)的諸多深度測(cè)試、測(cè)量結(jié)果及參數(shù)采集進(jìn)行創(chuàng)建和管理，包括MOSFET、MOSCAP、二極管、可靠性測(cè)試結(jié)果等。下面對(duì)吉時(shí)利公司諸多“測(cè)量能力”進(jìn)行探討和介紹。
晶圓級(jí)可靠性
自動(dòng)特性分析套件 (ACS)包括與HCI、NBTI、TDDB、EM等有關(guān)的各種測(cè)試模塊和項(xiàng)目。而且吉時(shí)利公司的多種源測(cè)量單元儀器和系統(tǒng)已經(jīng)擴(kuò)展至多通道并行測(cè)試、超快NBTI、超高壓Vds擊穿測(cè)試。下面對(duì)吉時(shí)利公司諸多“測(cè)量能力”進(jìn)行探討和介紹。
模片分類
吉時(shí)利公司為半導(dǎo)體器件、傳感器、MEMS以及小型模擬IC的片上模片分類或 已知優(yōu)良模片(KGD) 測(cè)試提供高速解決方案，通過專有的高精密源測(cè)量單元（SMU）儀器或IV儀器可以對(duì)這類器件進(jìn)行測(cè)試和分裝。下面對(duì)吉時(shí)利公司諸多“測(cè)量能力”進(jìn)行探討和介紹。
參數(shù)測(cè)試
自動(dòng)特性分析套件 (ACS)可用于過程控制監(jiān)視(PCM)以及其他相關(guān)應(yīng)用。由于它可以與圖形用戶接口（GUI）進(jìn)行交互，非常適合小批量生產(chǎn)應(yīng)用以及包含各種半定制硬件配置的實(shí)驗(yàn)室應(yīng)用。
最新產(chǎn)品
相關(guān)產(chǎn)品
