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吉時(shí)利 KEITHLEY 4200-SCS/F 半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)
名稱：可編程電源
品牌：
型號(hào)：
簡(jiǎn)介：吉時(shí)利 KEITHLEY 4200-SCS/F 半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)用于實(shí)驗(yàn)室級(jí)的器件直流參數(shù)測(cè)試、實(shí)時(shí)繪圖與分析，吉時(shí)利 KEITHLEY 4200-SCS/F 半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)具有高精度和亞fA級(jí)的分辨率。吉時(shí)利 KEITHLEY 42...
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- 產(chǎn)品介紹
吉時(shí)利 KEITHLEY 4200-SCS/F 半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)用于實(shí)驗(yàn)室級(jí)的器件直流參數(shù)測(cè)試、實(shí)時(shí)繪圖與分析，吉時(shí)利 KEITHLEY 4200-SCS/F 半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)具有高精度和亞fA級(jí)的分辨率。吉時(shí)利 KEITHLEY 4200-SCS/F 半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)提供了最先進(jìn)的系統(tǒng)集成能力，包括完整的嵌入式PC機(jī)，Windows操作系統(tǒng)與大容量存儲(chǔ)器。吉時(shí)利 KEITHLEY 4200-SCS/F 半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)自動(dòng)記錄、點(diǎn)擊式接口加速并簡(jiǎn)化了獲取數(shù)據(jù)的過程，這樣用戶可以更快地開始分析測(cè)試結(jié)果。吉時(shí)利 KEITHLEY 4200-SCS/F 半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)其它一些特征使得應(yīng)力測(cè)量功能能夠滿足各種可靠性測(cè)試的需求。以下是艾克賽普為您介紹吉時(shí)利 KEITHLEY 4200-SCS/F 半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)的特點(diǎn)，如有相關(guān)問題，請(qǐng)聯(lián)系長(zhǎng)沙艾克賽普儀器儀表公司rengken.cn，聯(lián)系電話：0731-84284278 84284378。
吉時(shí)利 KEITHLEY 4200-SCS/F 半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)的特點(diǎn)：
* 直觀的、點(diǎn)擊式Windows操作環(huán)境
* 獨(dú)特的遠(yuǎn)端前置放大器，將SMU的分辨率擴(kuò)展至 0.1fA
* 用于高級(jí)半導(dǎo)體測(cè)試的新型脈沖與脈沖式I-V功能
* 集成了示波與脈沖測(cè)量功能的新型示波卡
* 內(nèi)置PC提供快速的測(cè)試設(shè)置、強(qiáng)大的數(shù)據(jù)分析、制圖與打印、以及測(cè)試結(jié)果的大容量存儲(chǔ)
* 獨(dú)特的瀏覽器風(fēng)格的軟件界面，根據(jù)器件的類型來安排測(cè)試，可以執(zhí)行多項(xiàng)測(cè)試并提供測(cè)試序列與循環(huán)控制功能
* 內(nèi)置了Stress/Measure，循環(huán)和數(shù)據(jù)分析功能，通過鼠標(biāo)點(diǎn)擊方式就可進(jìn)行可靠性測(cè)試，包括5個(gè)JEDEC規(guī)范的樣品測(cè)試
* 支持 Keithley590 型與 Agilent 4284/4294型C-V儀、Keithley開關(guān)矩陣與Agilent 81110脈沖發(fā)生器等多種外圍設(shè)備
* 硬件由 Keithley交互式測(cè)試環(huán)境（KITE）來控制，用戶測(cè)試模塊功能，可用于外接儀表控制與測(cè)試平臺(tái)集成，是KITE功能的擴(kuò)充
* 包括驅(qū)動(dòng)軟件，支持CascadeMicrotech Summit 12K系列、Karl Suss PA-200和PA-300，Micromanipulator 的8860自動(dòng)和手動(dòng)探針臺(tái)
* 支持先進(jìn)的半導(dǎo)體模型參數(shù)提取，包括IC-CAP和Cadence BSIMProPlus/Virtuoso
吉時(shí)利 KEITHLEY 4200-SCS/F 半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)的特點(diǎn)：
* 直觀的、點(diǎn)擊式Windows操作環(huán)境
* 獨(dú)特的遠(yuǎn)端前置放大器，將SMU的分辨率擴(kuò)展至 0.1fA
* 用于高級(jí)半導(dǎo)體測(cè)試的新型脈沖與脈沖式I-V功能
* 集成了示波與脈沖測(cè)量功能的新型示波卡
* 內(nèi)置PC提供快速的測(cè)試設(shè)置、強(qiáng)大的數(shù)據(jù)分析、制圖與打印、以及測(cè)試結(jié)果的大容量存儲(chǔ)
* 獨(dú)特的瀏覽器風(fēng)格的軟件界面，根據(jù)器件的類型來安排測(cè)試，可以執(zhí)行多項(xiàng)測(cè)試并提供測(cè)試序列與循環(huán)控制功能
* 內(nèi)置了Stress/Measure，循環(huán)和數(shù)據(jù)分析功能，通過鼠標(biāo)點(diǎn)擊方式就可進(jìn)行可靠性測(cè)試，包括5個(gè)JEDEC規(guī)范的樣品測(cè)試
* 支持 Keithley590 型與 Agilent 4284/4294型C-V儀、Keithley開關(guān)矩陣與Agilent 81110脈沖發(fā)生器等多種外圍設(shè)備
* 硬件由 Keithley交互式測(cè)試環(huán)境（KITE）來控制，用戶測(cè)試模塊功能，可用于外接儀表控制與測(cè)試平臺(tái)集成，是KITE功能的擴(kuò)充
* 包括驅(qū)動(dòng)軟件，支持CascadeMicrotech Summit 12K系列、Karl Suss PA-200和PA-300，Micromanipulator 的8860自動(dòng)和手動(dòng)探針臺(tái)
* 支持先進(jìn)的半導(dǎo)體模型參數(shù)提取，包括IC-CAP和Cadence BSIMProPlus/Virtuoso
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