牛津儀器 電感耦合等離子體刻蝕PlasmaPro 80 ICP是一種結(jié)構(gòu)緊湊、小型且使用方便的直開式系統(tǒng),可提供多種刻蝕解決方案。 它易于放置,便于使用,且能夠確保工藝質(zhì)量。直開式設(shè)計(jì)允許快速的進(jìn)行晶圓裝卸,是科學(xué)研究、原型設(shè)計(jì)和少量生產(chǎn)的理想選擇。 該設(shè)備通過優(yōu)化了的電極冷卻技術(shù)和出色的襯底溫度控制來實(shí)現(xiàn)高度穩(wěn)定的工藝結(jié)果。
牛津儀器 電感耦合等離子體刻蝕PlasmaPro 80 ICP應(yīng)用
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III-V族材料刻蝕工藝
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硅 Bosch和超低溫刻蝕工藝
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二氧化硅和石英刻蝕
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用于失效分析的干法刻蝕解剖工藝,可處理封裝好的芯片、 裸晶片以及200mm晶圓
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用于高亮度LED生產(chǎn)的硬掩模的沉積和刻蝕
牛津儀器 電感耦合等離子體刻蝕PlasmaPro 80 ICP特點(diǎn)
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小型系統(tǒng) —— 易于安置
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優(yōu)化的電極冷卻系統(tǒng) —— 襯底溫度控制
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高導(dǎo)通的徑向(軸對稱)抽氣結(jié)構(gòu) —— 確保能提升工藝均勻性和速率
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增加<500毫秒的數(shù)據(jù)記錄功能 —— 可追溯腔室和工藝條件的歷史記錄
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近距離耦合渦輪泵 —— 抽速高迅速達(dá)到所要求的低真空度
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關(guān)鍵部件容易觸及 ——系統(tǒng)維護(hù)變得直接簡單
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X20控制系統(tǒng)——大幅提高了數(shù)據(jù)信息處理能力, 并且可以實(shí)現(xiàn)更快更可重復(fù)的匹配
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通過前端軟件進(jìn)行設(shè)備故障診斷 —— 故障診斷速度快
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用干涉法進(jìn)行激光終點(diǎn)監(jiān)測 —— 在透明材料的反射面上測量刻蝕深度 (例如硅上的氧化物),或者用反射法來確定非透明材料 (如金屬) 的邊界
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用發(fā)射光譜(OES)實(shí)現(xiàn)較大樣品或批量工藝的終點(diǎn)監(jiān)測 —— 監(jiān)測刻蝕副產(chǎn)物或反應(yīng)氣體的消耗量的變化,以及用于腔室清洗的終點(diǎn)監(jiān)測
ICP刻蝕是一種被廣泛使用的技術(shù),可提供高速率、高選擇比以及低損傷的刻蝕。等離子體能夠在低氣壓下保持穩(wěn)定,因此能夠更好地控制刻蝕形貌。 Cobra® ICP刻蝕源在低氣壓下仍可產(chǎn)生高密度的反應(yīng)粒子。襯底上的直流偏壓由一個射頻發(fā)生器獨(dú)立控制, 因此可根據(jù)工藝要求控制離子能量。
電感耦合等離子體刻蝕要點(diǎn)
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高刻蝕速率
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出色的均勻性
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低氣壓下高密度的反應(yīng)粒子
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精準(zhǔn)的襯底直流偏壓控制
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精準(zhǔn)的離子能量控制
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更寬的電極溫度范圍 -150ºC至+400ºC
電感耦合等離子體刻蝕特點(diǎn)及優(yōu)勢
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高刻蝕速率可由高離子密度(> 1011 /cm3)和高自由基密度來實(shí)現(xiàn)
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能夠利用低離子能量實(shí)現(xiàn)對選擇比和損傷的控制
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獨(dú)立的射頻和電感耦合等離子體發(fā)生器分別提供了對離子能量和離子密度的獨(dú)立控制, 從而實(shí)現(xiàn)了高度的工藝靈活性
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在低氣壓工藝下同時仍具有高離子密度,這樣可以改善對外形的控制
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化學(xué)和離子誘導(dǎo)刻蝕
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也可以在RIE模式下運(yùn)行,以滿足某些慢速刻蝕的需要
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可用于ICP-CVD模式的沉積
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高導(dǎo)通的泵送端口可提供高氣體流量,以實(shí)現(xiàn)快速的刻蝕速率
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靜電屏蔽消除了電容耦合,減少了對器件的電學(xué)損傷,以及在腔室內(nèi)減少了雜質(zhì)顆粒的形成
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標(biāo)準(zhǔn)化的晶圓壓盤與氦冷卻,提供了出色的溫度控制,同時可以選擇更寬的溫度范圍